58
ных величин. Все сведения, связанные с приписыванием распределений входным величинам моделей измерений, собраны в таблицу 10.
- Длина LS эталона
- Исходная информация
В сертификате о калибровке для эталона указана оценка его длины при 20 °С LS = 50,000623 мм
[Руководство ИСО/МЭК 98-3 (H.1.5)] и расширенная неопределенность этой оценки Up = 0,075 мкм для коэффициента охвата kp = 3 [Руководство ИСО/МЭК 98-3 (H.1.3.1)]. В сертификате указано, что число эффективных степеней свободы для суммарной стандартной неопределенности, на основе которой была
получена упомянутая расширенная неопределенность, veff (L S ) = 18 [Руководство ИСО/МЭК 98-3 (H.1.6)].
- Выбор распределения
Величине LS было приписано масштабированное смещенное f-распределение tv (д, о2) (см. 6.4.9.7) со значениями параметров
Up 75
д = 50000623 нм, о = = з = 25 нм, v = 18.
- Средняя разность длин D
- Исходная информация
Выборочное среднее D по пяти наблюдениям разности длин калибруемой концевой меры длины и эталона составляет 215 нм [Руководство ИСО/МЭК 98-3 (H.1.5)]. Объединенное стандартное отклонение, характеризующее разность L и LS, определено по 25 независимым наблюдениям разности длин двух эталонных концевых мер длины и составляет 13 нм [Руководство ИСО/МЭК 98-3 (H.1.3.2)].
- Выбор распределения
Величине D было приписано масштабированное смещенное t-распределение tv (д, о2) (см. 6.4.9.2 и 6.4.9.6) со значениями параметров