ГОСТ Р 55685—2013
О
к
ончание таблицы 13В процентах
Определяемый
компонент
Диапазон измерений массовых
долей компонентов
Характеристика
погрешности
измерений *Д
Предел
повторяемости гвоспроизводимости
R
СеленОт 0.0030 до 0.0060 в ключ.0.00080.00100.0011
Св. 0.0060 »0.0100 »0.00150.00200.0020
» 0.010 »0,030»0.004
0.0030.005
» 0,030 »0.065»0,009
0.0050.010
ТеллурОт 0.0030 до 0.0060 в ключ.0.00080.00100.0011
Св. 0.0060 » 0.0100 »0.00150.00200.0020
» 0,010 »0.030»0.004
0.0030.005
» 0,030 »0,065»0.009
0.0050.010
ЦинкОт 0.0030 до 0.0090 в ключ.0.00110.00100.0015
Св.0.009 » 0.030»0.0040.0030.005
ЖелезоОт 0.0006 до 0.0020 включ.0.00040.00030.0005
Св.0.0020 » 0.0060 »0.00060.00060.0009
» 0.006 » 0.020»0.002
0.00200.003
» 0.020 » 0.060»0.007
0.0070,010
ОловоОт 0.0010 до 0.0030 включ.0.00040.00040.0006
Св.0.0030 » 0.0090»0.00110.00100.0015
» 0.009» 0.030»0,0030.0030.004
* 0.030» 0.090*0.0110.0100.015
13.3 Средства измерений, вспомогательные устройства, материалы, растворы
При выполнении измерений применяют следующие средства измерений и вспомогательные
устройства:
- спектрометр атомно-эмиссионный «SPECTRO LAB S» или аналогичный;
- весы лабораторные с наибольшим пределом взвешивания 200 г специального класса точности
по ГОСТ Р 53228 с дискретностью 0,0001 г;
- фрезерный станок «HERZOG», «НК 80 F» или аналогичный;
- станок токарный настольный ТН-150 или аналогичный;
- компрессор модели М 1-7 или аналогичный;
- манометр диапазоном измерений от 0 до 10 МПа.
- высокочастотную плавильную установку «Lifumat Met 3.3 VAC» или аналогичную;
- печь очистки аргона «Rare Gas Purifier МР-2000» или аналогичную;
- изложницу медную или графитовую,
- тигли графитовые;
- тигли керамические;
- носик керамический для тиглей.
При выполнении измерений применяют следующие материалы и растворы:
- стандартные образцы (СО) состава меди:
- стандартные образцы (СО) состава черновой меди для спектрального анализа;
- аргон по ГОСТ 10157;
- воздух, сжатый под давлением от 4 до б МПа;
- смазку силиконовую;
- спирт этиловый по ГОСТ 18300.
13.4 Метод измерений
Метод основан на измерении интенсивности эмиссионных спектральных линий определяемых
компонентов в металлическом анализируемом образце и металлических образцах сравнения с ис-
36