ГОСТ Р 53798 — 2010
Прсдопженив таблицы Х1.1
и
Определение
Номер ссылкиФункция
Л
ИМСКритичность
временных
границ
SC-1.1.6
Структура базы данных
Л
ИМС для об
разцов и результатов: доступ к соответ
ствующей лаборатории
SC-1.1.6.1
Структура образцов, результатов, мате
риалов. профилей, испытаний, резуль
татов и спецификаций
SC-1.1.6.2
Взаимосвязь между образцами и испы
таниями
SC-1.2
Инструменты базы данных
SC-1.2.1
Определенные пользователем табли
цы. поля, индексы, расширение полей
SC-1.2.2
Определенные поля, авторизованные
по типу данных, категории, группе,
пользователю
SC-1.2.3
Модули импорта/экспорта
Л
ИМС
SC-1.2.4
Автоматическая реструктуризация ста
рых данных в новой структуре
SC-1.3
Инструменты конфигурирования
SC-1.3.1
Определение материала
SC-1.3.2
Определение испытаний
SC-1.3.2.1
Испытания, связанные со специфичес
кими материалами
SC-1.3.2.2
Стандартные испытания
SC-1.3.2.3
Определение специального испытания
в процессе регистрации образца
SC-1.3.2.4
Прохождение/ошибочность испытаний
SC-1.3.2.5
Свободно комментируемые испытания
SC-1.3.2.6Меню выбора испытаний
SC-1.3.2.7
Численные испытания
SC-1.3.2.8
Численные испытания с вычислениями
SC-1.3.3
Определение результатов и наблюде
ний
SC-1.3.4
Определение алгоритма
SC-1.3.5
Определение профиля
SC-1.3.6
Определение хронометража
SC-1.3.7
Определение спецификации
SC-1.3.8
Контроль пересмотров
SC-1.3.9
Изменения аудиторского прослежива
ния
SC-1.3.10
Отчеты по конфигурированию
SC-1.4
Связи с основными целевыми инстру
ментами
63