ГОСТ 5382—73
Si0
2
в стандартном образце.В двух других аликвотных частях
концентрацию Si0
2
соответственно рассчитывают.
На основе градуировочных графиков могут быть составлены
расчетные таблицы, где каждому значению оптической плотности
будет соответствовать определенная концентрация искомого окис
ла.
3.1.2.
Проведение анализа
Навеску 0,1 г цемента сплавляют с 1 г плавня. Сплав растворя
ют, непрерывно перемешивая его в
100
мл раствора соляной кис
лоты, и переносят количественно прозрачный раствор в мерную
колбу вместимостью 500 мл, как указано в описании построения
градуировочного графика. Полученный раствор служит для коло
риметрического определения содержания двуокиси кремния, оки
сей железа, алюминия, магния и фототрилонометрического опре
деления кальция.
Для определения содержания двуокиси кремния последователь
но отбирают в две мерные колбы вместимостью
100
мл по
5
мл ана
лизируемогои 5 мл стандартного растворов,добавляют около
25 мл воды, 5 мл раствора молибдата аммония и производят все
дальнейшие операции, вплоть до колориметрирования, как указа
но в описании построения градуировочного графика. Затем вводят
поправку на изменение условий колориметрирования по сравнению
с условиями построения графика по измеренной оптической
плот ности эталонного раствора. Поправка вносится с обратным
знаком, т. е. если оптическая плотность эталонного раствора
увеличилась на 0,007, то эта величина отнимается от оптической
плотности ра створа цемента и наоборот. Затем определяют по
графику содер жание двуокиси кремния в миллиграммах с учетом
введенной по правки.
Содержание двуокиси кремния (Si02) в процентах вычисляют
по формуле
ао, -
М*Уг ’
юоо’
где
Mi
— количество двуокиси кремния,найденноепографику,
мг;
V
— общий объем раствора, мл;
Vi
— объем раствора, взятый для колориметрирования, мл;
М
— навеска цемента, г.
При выражении концентраций градуировочных графиков в про
центах определяемых компонентов полученные результаты для це
ментов увеличивают в 1,5 раза. Приведенный расчет может быть
применен для всех фотоколориметрических определений, за исклю
чением дифференциального.
72