ГОСТ Р 55410—2013
поосиX —
Ccrto3
поосиУ - ЛСМп0,
%
Рисунок Н.4 — Расчетные коэффициенты наложения линий
ЛС1/Г>0
и Сг20 3
Соотношения между ДС1<п0и Cc,20j из таблицы Н.2 показаны на рисунке Н.4.
Коэффициент корректировки наложения линийрассчитывают с использованием метода наименьших
квадратов.
1
^ОгтдО а-Сс/а&лК^О цло-ДС^о) £ £ Х-10.945n o rm ?(Н 7)
а с с л - Г с
,0, f
“ w s ’
Полученный коэффициент корректировки наложения линий
!Ып0,
СС/гоа. Сг /ф на Мп
Ка
для хромомагнези
товых кирпичей и мертелей равен -0.0032 и зависит от оборудования;
b
) метод множественной регрессии
Коэффициенты а.
Ь
и с и коэффициент корректировки наложения линий /v. для которых отклонения мини
мизированы. рассчитывают одновременно методом наименьших квадратов;
c) стандартный метод добавок
Коэффициенты корректировки наложения пиний рассчитывают как разность между интенсивностью рент
геновского излучения от дисков без мешающего компонента и от дисков, содержащих фиксированные количества
мешающего компонента.
H.4J2 Корректировка матрицы
Н.4.2.1 Общие положения
Интенсивность рентгеновского излучения вычисляют по формуле
кС
‘•"Ш Щ Ъ -<Н8)
где А — интенсивность рентгеновского излучения компонента I;
к
— константа:
С, — содержание анализируемого компонента г.
ц — коэффициент линейной абсорбции;
р — плотность;
(р/р)^ — коэффициент массовой абсорбции мешающего компонента;
/С, — содержание мешающего компонента j.
56