Хорошие продукты и сервисы
Наш Поиск (введите запрос без опечаток)
Наш Поиск по гостам (введите запрос без опечаток)
Поиск
Поиск
Бизнес гороскоп на текущую неделю c 29.12.2025 по 04.01.2026
Открыть шифр замка из трёх цифр с ограничениями

ГОСТ Р 56662-2015; Страница 19

или поделиться

Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы ГОСТ Р 56102.2-2015 Системы централизованного наблюдения. Часть 2. Подсистема объектовая. Общие технические требования и методы испытаний (Настоящий стандарт распространяется на объектовые подсистемы и входящие в них технические средства и модули в составе вновь разрабатываемых и модернизируемых систем централизованного наблюдения (далее-СЦН) и устанавливает общие технические требования и методы испытаний к ним) ГОСТ IEC 62262-2015 Электрооборудование. Степени защиты, обеспечиваемой оболочками от наружного механического удара (код IK) (Настоящий стандарт касается классификации степеней защиты от внешних механических ударов, обеспечиваемой оболочками для защищаемого оборудования на номинальное напряжение не св. 72,5 кВ. Настоящий стандарт применим к оболочкам оборудования только в части степеней защиты оболочки от механических ударов (далее-ударов)) ГОСТ IEC 61477-2015 Работа под напряжением. Минимальные требования к эксплуатации инcтрументов, устройств и оборудования (Настоящий стандарт распространяется на инструменты, приборы и оборудование, предназначенные для работы под напряжением, и устанавливает для них минимальные требования к техническим характеристикам, производству, отбору, применению и техническому обслуживанию. Установленные в настоящем стандарте требования предназначены для квалифицированных специалистов в целях повышения уровня безопасности при использовании инструментов, приборов и оборудования)
Страница 19
Страница 1 Untitled document
ГОСТ Р 566622015
7.2.15 послойное электростатическое осаждение полиэлектролитов: Процесс
получения покрытия путем последовательного нанесения на поверхность подложки
слоев полиэлектролитов с противоположными знаками электрических зарядов.
7.2.16 термическое напыление (нанотехнологии): Процессполучения покрытияиз
наночастиц(2.6) напыляемого материала, при соударении которыхсподложкой про
исходитихсоединение, сприменением плазменнойструиили в результатесгорания
примесей напыляемого материала.
7.2.17 центробежное осаждение: Процесс получения пленки осаждением из жид
кого исходного материала твердой дисперсный фазы на вращающуюся подложку
поддействием центробежныхсил.
7.2.18 осаждение распылением: Процесс получения покрытия из исходного жид
когоматериала, преобразованногосоплом ваэрозольинанесенногона поверхность
подложки.
7.2.19 осаждение напылением: Физическое осаждение из газовой фазы (7.2.14) с
применением источника высокоэнергичных частиц, бомбардирующих исходный
материал (мишень),для перемещенияатомовисходного материала на поверхность
подложки.
7.2.20 полимеризация на поверхности: Процесс получения полимерной пленки
на поверхности подложки из газовой или жидкой фазы исходного мономера.
polyelectrolyte
layer-by-layer;
LbL
thermal spray
spin coating
spraydeposition
sputterdeposition
surface
polymerization
7.3 Термины и определения понятий, относящихся к процессам травления
7.3.1 анизотропное травление: Процесс управляемого удаления поверхностного
слоя материалас подложки, происходящий в вертикальном направлениисо скорос
тью выше, чем в горизонтальном направлении.
7.3.2 Бош-травленио; пассивационмоо травление: Процесс управляемого удале
ния поверхностного слоя материала с подложки неоднократным чередованием цик
лов травления и пассивации, обеспечивающих формирование почти вертикальных
элементов структуры объекта.
7.3.3 химическое травление: Процесс управляемого удаления поверхностного
слоя материала с подложки поддействием химических веществ.
anisotropic
etching
Bosch etching
chemicaletching
П р и м е ч а н и е В процессе химического травления применяют жидкие (жидкостное травление) или газооб
разные ухое травление) химические вещества.
7.3.4 химическое ионно-лучевое травление: Процесс управляемого удаления
поверхностногослоя материала с подложкипучкомионовхимическиактивногогаза,
chemically
assisted
ion beam etching
cryogenicetching
7.3.5 криогенное травление: Процесс управляемого удаления поверхностного
слоя материала с подложки путем ее охлаждения до температуры 163 К или ниже,
при которой возможно формирование почти вертикальных элементов структуры
объекта.
П р и м е ч а н и е Температура 163 К или ниже замедляет скорость химических реакций в процессе травления.
Бомбардирующие поверхность материала ионы, выбивая частицы с заданных участков, формируют вертикальные
элементы структуры объекта.
7.3.6 кристаллографическое травление:Процессуправляемого удаления
поверхностного слоя материала с подложки, происходящий с разной скоростью по
различным кристаллографическим направлениям.
7.3.7 глубокое реактивное ионное травление; ГРИТ: Процесс анизотропного
травления (7.3.1), применяемый для получения на подложке структур, элементы
которыхимеют заданноесоотношение геометрических размеров.
crystallographic
etching
deep reactive ion
etching;
DRIE
Пример
Отверстия и канавки с верт икальными стенками.
П р и м е ч а н и е К глубокому реактивному ионному травлению относят Бошравление (7.3.2) и криогенное
травление (7.3.5).
7.3.8 сухое озоление: Вид химического травления (7.3.3) с применением газооб- dry-ashing
разныххимическихвеществ, впроцессе которогопроисходит преобразование мате
риала вобласти, подвергаемой травлению, в летучее удаляемоесоединение.
Пример
Удаление с подложки шаблона из ф оторезиста с применением кислорода.
14