ГО СТ 31588.3— 2012
В.З Требования кто чн о сти измерения
В.3.1 Любое отклонение формы измеряемой поверхности контактной линзы приводит к формированию
искривленной или неправильной интерференционной картины, что можноинтерпретироватькакконтурное изобра
жение отклонений от идеальной поверхности. Соседние полосы имеют разность высот в половину используемой
длины волны, например. 633,2 нм — для гелий-неонового лазера.
Применяя автоматические методы анализа интерференционной полосыспомощью видео- или ПЗС-камеры.
управляемой компьютером, измеряютотклонения от формы всей поверхности либо ее большегоучастка, в зависи
мости от отношения диаметра квершинному радиусу кривизны и от числовой апертуры объектива.
Достигнутая точность формы более 300 нм. Точность измерения вершинного радиуса равна разрешающей
способности дистанционного измерителя.
В.4 Требования к образцам для измерения
В.4.1 Образцами для измерения являются готовые жесткие контактные линзы.
В.5 Порядок проведения измерения
Порядок проведения измерения заключается в проведении следующих действий:
- расположить поверхность контактной линзы, которая подлежит измерению, очень точно относительно
фокуса объектива 6с помощьюдистанционного измерителя с разрешающей способностью 0,001 мм.
- визуально проконтролировать фокус объектива регулированием интерференционной картины до получе
ния минимального количества полос;
- переместить пооси контактную линзу на расстояние равное ее вершинному радиусукривизны. В этом поло
жении произвести анализ интерференционных полос;
- вычислить оптимально-приближенный вершинный радиус кривизны, а также коническую постоянную
поверхности по результату анализа интерференционных полос;
- исключить остаточные отклонения от идеальной конической поверхности.
29