ГОСТ Р 8.698-2010; Страница 29

или поделиться

Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы

ГОСТ Р 8.696-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра State system for ensuring the uniformity of measurements. Interplanar spacings in crystals and the intensity distribution in diffraction patterns. Method for measurement by means of an electron diffractometer (Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и распределений интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных при дифракции пучка электронов на кристаллах с помощью электронного дифрактометра. Настоящий стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в диапазоне линейных размеров от 0,08 до 20,00 нм и распределения токовых интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных от кристаллов в диапазоне от 10 в ст. минус14 до 10 в ст. минус 6 А. Настоящий стандарт не устанавливает методику определения типа элементарной решетки кристалла и индекса Миллера плоскостей кристалла, между которыми вычисляют расстояния) ГОСТ Р 53440-2009 Основные нормы взаимозаменяемости. Характеристики изделий геометрические. Нормальные конусности и углы конусов Basic norms of interchangeability. Geometrical product specifications. Standard rates of taper and cone angles (Настоящий стандарт распространяется на применяемые в машиностроении конусности и углы конусов гладких конических элементов деталей и устанавливает ряды нормальных конусностей от 1:0,289 до 1:500 и углов конусов от 0,114 град. до 120 град. Настоящий стандарт не распространяется на конусности и углы конусов, связанные расчетными зависимостями с другими принятыми размерами, негладкие конические элементы деталей (призматические элементы, конические резьбы, конические зубчатые передачи и т.д). Правила указания размеров и допусков конических поверхностей на чертежах согласно ГОСТ 2.320) ГОСТ 31386-2008 Смеси сухие строительные клеевые на гипсовом вяжущем. Технические условия Dry building glued gypsum binder mixes. Specifications (Настоящий стандарт распространяется на сухие строительные дисперсные клеевые смеси заводского изготовления, изготавливаемые на гипсовом вяжущем с различными добавками, предназначенные для монтажа гипсокартонных листов, гипсовых плит и блоков, элементов архитектурного декора на основе гипсового вяжущего при проведении внутренних работ при строительстве, ремонте и реконструкции зданий и сооружений. Не допускается применение клеевых смесей при отделке поверхностей керамической плиткой, бетонными плитами на основе портландцемента. Настоящий стандарт устанавливает технические требования к сухим смесям, смесям, готовым для применения, и затвердевшим смесям)

Страница 29

Страница 1

Untitled document

ГОСТ Р 8.698—2010

Отл1— наиболее точное приближение максимального размера наночастиц, соответствующее экс

периментальной кривой рассеяния, вычисленное по 11.1.2.12. нм.

12.1.4Доверительную границу д01Га<>нм. суммарной погрешности измерения максимального раз

мера наночастиц в монодисперсной системе вычисляют при доверительной вероятности Р = 0,95 по

формуле

447

<т0 .

где aD— суммарная погрешность измерения максимального размера наночастиц в монодиспер

сной системе, вычисленная по 12.1.3, нм.

12.1.5Относительную погрешность 50я , %. измерения максимального размера наночастиц в

монодисперсной системе вычисляют при доверительной вероятности Р = 0.95 по формуле

5B^ 2 s .io o ,

где Д0тах — доверительная граница суммарной погрешности измерения максимального размера нано

частиц в монодисперсной системе, вычисленная по 12.1.4, нм;

°тл. ~ наиболее точное приближение максимального размера наночастиц, соответствующее экс

периментальной кривой рассеяния, вычисленное по 11.1.2.12. нм.

12.1.6 Используя вычисленные по 12.1.1 значения /Лвместо /„ вычисляют по 11.1.3.5 Н теорети

ческих значений электронного радиуса инерции Р9„ в нанометрах, которые соответствуют каждой из Н

сгенерированных по 12.1.1 кривых рассеяния {h = 1, 2

.....

Н).

12.1.7 Суммарную погрешность оя_, нм. теоретического значения электронного радиуса инерции

вычисляют по формуле

- V 2

"я

Н(Н-Ч)

где Р,?„ — теоретическое значение электронного радиуса инерции наночастиц, которое соответствует h-

й из Н сгенерированных по 12.1.1 кривых насыщения (Л = 1. 2

.....

Н), вычисленное по

12.1.5, нм:

Р9— вычисленное по 11.1.3.5 теоретическое значение электронного радиуса инерции наночас

тиц, соответствующее экспериментальной кривой рассеяния.

12.1.8Доверительные границы ЛР9. нм. суммарной погрешности измерения теоретического зна

чения электронного радиуса инерции в монодисперсной системо вычисляют при доверительной веро

ятности Р = 0.95 по формуле

ДР9= 4.47

где стя — суммарная погрешность измерения теоретического значенияэлектронного радиуса инерции,

вычисленная по 12.1.7. нм.

12.1.9Относительную погрешность йя . %, измерения теоретического значения электронного ра

диуса инерции в монодисперсной системе вычисляют при доверительной вероятности Р = 0.95 по фор

муле

др„

Ч~ 1 ° о -

где ЛРЙ— доверительные границы суммарной погрешности измерения теоретического значения элек

тронного радиуса инерции в монодисперсной системе, вычисленные по 12.1.8;

Р9— теоретическое значение электронного адреса инерции наночастиц, соответствующее экспе

риментальной кривой рассеяния, вычисленное по 11.1.3.5, нм.

12.1.10Суммарную погрешность а*,. нм. экспериментального значения электронного радиуса

инерции вычисляют по формуле