Хорошие продукты и сервисы
Наш Поиск (введите запрос без опечаток)
Наш Поиск по гостам (введите запрос без опечаток)
Поиск
Поиск
Бизнес гороскоп на текущую неделю c 29.12.2025 по 04.01.2026
Открыть шифр замка из трёх цифр с ограничениями

ГОСТ Р 8.698-2010; Страница 20

или поделиться

Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы ГОСТ Р 8.696-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра State system for ensuring the uniformity of measurements. Interplanar spacings in crystals and the intensity distribution in diffraction patterns. Method for measurement by means of an electron diffractometer (Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и распределений интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных при дифракции пучка электронов на кристаллах с помощью электронного дифрактометра. Настоящий стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в диапазоне линейных размеров от 0,08 до 20,00 нм и распределения токовых интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных от кристаллов в диапазоне от 10 в ст. минус14 до 10 в ст. минус 6 А. Настоящий стандарт не устанавливает методику определения типа элементарной решетки кристалла и индекса Миллера плоскостей кристалла, между которыми вычисляют расстояния) ГОСТ Р 53440-2009 Основные нормы взаимозаменяемости. Характеристики изделий геометрические. Нормальные конусности и углы конусов Basic norms of interchangeability. Geometrical product specifications. Standard rates of taper and cone angles (Настоящий стандарт распространяется на применяемые в машиностроении конусности и углы конусов гладких конических элементов деталей и устанавливает ряды нормальных конусностей от 1:0,289 до 1:500 и углов конусов от 0,114 град. до 120 град. Настоящий стандарт не распространяется на конусности и углы конусов, связанные расчетными зависимостями с другими принятыми размерами, негладкие конические элементы деталей (призматические элементы, конические резьбы, конические зубчатые передачи и т.д). Правила указания размеров и допусков конических поверхностей на чертежах согласно ГОСТ 2.320) ГОСТ 31386-2008 Смеси сухие строительные клеевые на гипсовом вяжущем. Технические условия Dry building glued gypsum binder mixes. Specifications (Настоящий стандарт распространяется на сухие строительные дисперсные клеевые смеси заводского изготовления, изготавливаемые на гипсовом вяжущем с различными добавками, предназначенные для монтажа гипсокартонных листов, гипсовых плит и блоков, элементов архитектурного декора на основе гипсового вяжущего при проведении внутренних работ при строительстве, ремонте и реконструкции зданий и сооружений. Не допускается применение клеевых смесей при отделке поверхностей керамической плиткой, бетонными плитами на основе портландцемента. Настоящий стандарт устанавливает технические требования к сухим смесям, смесям, готовым для применения, и затвердевшим смесям)
Страница 20
Страница 1 Untitled document
ГОСТ Р 8.698—2010
Значение оптимального параметра регуляризации а ^. вычисляют по формуле
где Qj, ОГ. ОГ — значения суммарных критериев качества, вычисленные по 11.1.2.7 для значений па
раметров регуляризации а’. а \ а" соответственно.
Соответствующий вычисленному значению оптимального параметра регуляризации а01 вектор
орг
значений оптимальной функции распределения по расстояниям вычисляют по формуле, приведенной
в 11.1.2.5. заменяла* на а ^. и в соответствии с требованием 11.1.2.6. Результирующий вектор обозна
ча ю т^, (p<J (/}),;= 1.2
.....
N).
11.1.2.9 С помощью программного обеспечения строят график зависимости значений оптималь
ной функции распределения(г;) от расстояния rf j = 1.2,3
.....
N), при этом последовательные точки
данной зависимости соединяют отрезками прямых линий. Построенную непрерывную функцию обозна
чают р^’,(г). Визуально или с помощью программного обеспечения (при необходимости изменяя мас
штаб изображения графика р ^ ((г)) находят наименьшее значение расстоянияв нанометрах, при
котором функция р^,(г) достигает нулевого значения, то есть пересечения с осью абсцисс (кроме нуле
вого значения при г= 0).
П р и м е ч а н и е Если график рЦ’(г) не достигает нулевого значения ординаты при максимальных зна
чениях расстояний г. то значение rmax0 увеличивают и процедуру повторяют, начиная с 11.1.2.1.
11.1.2.10 В качестве первого приближения максимального размера наночастиц D^ , в наномет
рах и максимального расстояния гтаж, в нанометрах, ограничивающего диапазон расстояний в сфери
ческой системе координат, принимаютвычисленное по 11.1.2.9значение расстояния/-^ в нанометрах.
11.1.2.11 Используя вместо нулевого гтаж0первое приближение максимального расстояния rmax,
в нанометрах и последовательно повторяя операции по 11.1.2.211.1.2.9. находят более точно описы
вающую моиодисперсмую систему наночастиц оптимальную функцию распределения по расстояниям
)пРи а ^ г и соответствующее ей наименьшее значение расстояния г™ в нанометрах, при котором
функция p^J(г) равна нулевому значению (кроме нулевого значения при г= 0). Найденное значениег™
так же, как в 11.1.2.10, принимают за следующее более точное приближение максимального размера
наночастицDmax, в нанометрах и максимального расстояния гтаж2в нанометрах, ограничивающегодиа
пазон изменения расстояний в сферической системе координат.
11.1.2.12 Вычисляют третье Omjx3 и последующие приближения максимального размера нано
частиц в нанометрах, циклически повторяя операции по 11.1.2.11 до тех пор. пока соответствующая гра
фическая зависимость оптимальной функции распределения по расстояниям, обозначаемой р0Р,(г), не
будет плавно, по касательной приближаться к нулевому значению в области наибольших значений г. не
пересекая ось абсцисс, то есть оставаясь все время неотрицательной. В этом случае точка касания
функциирор.(г)с осью абсцисс будет наиболее точным приближением максимального размера наночас-
тиц Dmaxв нанометрах.
П р и м е ч а н и я
1 Рекомендуемое число циклически повторяемых вычислений по 11.1.2.12 равно четырем, так как это обес
печивает необходимое приближение максимального размера наночастиц в монодисперсной системе Dnat = Отя14.
В случае заниженного значения Dmet графикрор|(г) при больших / пересекает ось абсцисс один раз под углом,
отличающимся от нулевого (не по касательной). В случае завышенного значения 0 m>t график р ^ с ) при больших г
осциллирует около оси абсцисс, пересекая ее несколько раз. Если система монодисперсна. то обычно после не
скольких итераций удается найти реальное значение 0 тИ1. при котором график р ^ г) стремится к нулю при больших г
по касательной.
2 Если исследуемая система наночастиц является лолидислерсной. то график р ^ г) даже после многих ите
раций при больших г может не достигать нулевого значения по касательной, а либо один раз пересекать ось аб
сцисс под углом, отличающимся от нулевого, либо осциллировать около оси абсцисс, пересекая ее несколько раз.
а (,). = ехр
1
J(ln g "); -(ln«")2)(Q^)2-<(lna-)2 -(i)2НОГ)2 +((1п«")2-<1псОг )(ОП2
2(Щ ц"-In о ) О; - (In а ** - Inа ’)Q£ + (Ina* —In e’JQj
СО^
16