ГОСТ Р 8.698-2010; Страница 27

или поделиться

Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы

ГОСТ Р 8.696-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра State system for ensuring the uniformity of measurements. Interplanar spacings in crystals and the intensity distribution in diffraction patterns. Method for measurement by means of an electron diffractometer (Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и распределений интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных при дифракции пучка электронов на кристаллах с помощью электронного дифрактометра. Настоящий стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в диапазоне линейных размеров от 0,08 до 20,00 нм и распределения токовых интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных от кристаллов в диапазоне от 10 в ст. минус14 до 10 в ст. минус 6 А. Настоящий стандарт не устанавливает методику определения типа элементарной решетки кристалла и индекса Миллера плоскостей кристалла, между которыми вычисляют расстояния) ГОСТ Р 53440-2009 Основные нормы взаимозаменяемости. Характеристики изделий геометрические. Нормальные конусности и углы конусов Basic norms of interchangeability. Geometrical product specifications. Standard rates of taper and cone angles (Настоящий стандарт распространяется на применяемые в машиностроении конусности и углы конусов гладких конических элементов деталей и устанавливает ряды нормальных конусностей от 1:0,289 до 1:500 и углов конусов от 0,114 град. до 120 град. Настоящий стандарт не распространяется на конусности и углы конусов, связанные расчетными зависимостями с другими принятыми размерами, негладкие конические элементы деталей (призматические элементы, конические резьбы, конические зубчатые передачи и т.д). Правила указания размеров и допусков конических поверхностей на чертежах согласно ГОСТ 2.320) ГОСТ 31386-2008 Смеси сухие строительные клеевые на гипсовом вяжущем. Технические условия Dry building glued gypsum binder mixes. Specifications (Настоящий стандарт распространяется на сухие строительные дисперсные клеевые смеси заводского изготовления, изготавливаемые на гипсовом вяжущем с различными добавками, предназначенные для монтажа гипсокартонных листов, гипсовых плит и блоков, элементов архитектурного декора на основе гипсового вяжущего при проведении внутренних работ при строительстве, ремонте и реконструкции зданий и сооружений. Не допускается применение клеевых смесей при отделке поверхностей керамической плиткой, бетонными плитами на основе портландцемента. Настоящий стандарт устанавливает технические требования к сухим смесям, смесям, готовым для применения, и затвердевшим смесям)

Страница 27

Страница 1

Untitled document

ГОСТ Р 8.698—2010

где q— значение в единицах модуля вектора рассеяния угловой координаты л-го брегговского пика

на к-й кривой рассеяния, определенное по 11.2.1.1, нм ’;

К — число повторно измеренных кривых рассеяния в режиме «на отражение от поверхности»,

установленное по 10.3.6;

N’ — число брегговских пиков на кривой рассеяния, определенное по 11.2.1.1.

11.2.1.3Вычисляют среднеквадратическую погрешность ст^8>. н м \ среднеарифметического зна

чения угловой координаты л-ro брегговского пика (л = 1. 2

.....

ЛГ), по формуле

(В>

К-1___________

К(К -1)

где q— значение угла в единицах модуля вектора рассеяния л-го брегговского пика на к-й кривой

рассеяния, определенное по 11.2.1.1, нм-’;

qjtB)

— среднеарифметическое значение угла, соответствующего положению брегговского пика с

порядковым номером л. вычисленное по 11.2.1.2, нм-1;

К — число повторно измеренных кривых рассеяния в режиме «на отражение от поверхности»,

установленное по 10.3.6;

N’ — число брегговских пиков на кривой рассеяния, определенное по 11.2.1.1.

11.2.1.4 Вычисляют период повторения d, нм. по формуле

d =

2л

Г,(п<в>)2

(в)

где л — порядковый номер брегговского пика на кривой рассеяния (л = 1, 2

.....

ЛГ);

ЛГ — число брегговских пиков на кривой рассеяния, определенное по 11.2.1.1;

q jf1— среднеарифметическое значение угла, соответствующего положению брегговского пика с по

рядковым номером л, вычисленное по 11.2.1.2. нм 1;

а ^ — среднеквадратическая погрешность среднеарифметического значения угла, соответствующе

го положению брегговского пика с порядковым номером л. вычисленная по 11.2.1.3. нм’1.

11.2.2 Толщину пленки оценивают одним из следующих способов.

11.2.2.1При отсутствии осцилляций Киссига накривыхрассеяния, измеренных по 10.3.6, толщину

пленки L, нм, вычисляют на основании априорной информации о числе идентичных слоев пленки по

формуле

L = Zd.

где Z — число идентичных слоев в исследуемой пленке;

d — значение периода повторения слоев, вычисленное по 11.2.1, нм.

П р и м е ч а н и я

1 Отсутствие на кривых рассеяния осцилляций Киссига свидетельствует о невысоком качестве (ступенча

тости. шероховатости, дефектности и т. л.) поверхности пленки или о ее предельно большой толщине.

2 Относительно реальной толщины пленки вычисленное значение L может оказаться какзаниженным (в слу

чае наличия в пленке кроме слоевых ячеек повторения дополнительных над- и подслоев), так и завышенным (из-за

сокращения реального числа слоев в приготовленной пленке при переносе на подложку). В этом случае необходи

мо провести дополнительный анализ косвенных данных о структуре пленки для подтверждения адекватности полу

ченного результата.

11.2.2.2При наличии на кривых рассеяния осцилляций Киссига толщину пленки вычисляют по по

ложениям на кривой рассеяния максимумов этих осцилляций, выполняя следующие операции:

- для каждой из кривых рассеяния выбирают группу из S >5 последовательных осцилляций Кисси

га. обладающих в среднем максимальной для данной кривой рассеяния амплитудой из всех групп по S

осцилляций Киссига на данной кривой рассеяния;