ГОСТ Р 8.698-2010

Государственная система обеспечения единства измерений

Размерные параметры наночастиц и тонких пленок

Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра State system for ensuring the uniformity of measurements

Dimensional parameters of nanoparticles and thin films

Method for measurement by means of a small angle X-ray scattering diffractometer (Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения следующих измерений с помощью автоматического рентгеновского малоуглового дифрактометра:

максимальных размеров и электронных радиусов инерции наночастиц в монодисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм;

распределения наночастиц по размерам в полидисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм;

общей толщины и размера периода повторения слоев в многослойных пленках толщиной от 1 до 100 нм

Настоящий стандарт распространяется на:

материалы, содержащие системы наночастиц со среднеарифметическим расстоянием между ними не менее 10 максимальных линейных размеров, с однородной электронной плотностью, большей или меньшей электронной плотности окружающей их среды;