ГОСТ 23198—94
3.5.5 Измерения разрядных ламп со спектром излучения, со
держащим большое количество достаточно интенсивных
линий
или
острых пиков у фона, например, металлогалогенных ламп, люми
несцентных ламп с узкополосным спектром излучения, проводят
ступенчатым методом.
3.5.5.1 Измерения должны проводиться с узкой входной и ши
рокой выходной щелями, определяющими спектральный интервал
ступеней. При выборе ширины входной щели, обеспечивающей до
статочную величину фототоков, должно выдерживаться условие,
указанное в 3.2.5.4 и З.2.5.Я. Ширина выходной щели при прове
дении измерений на приборах с переменной дисперсией для каж
дого спектрального интервала различна и рассчитывается в со
ответствии с формулой (2).
3.5.5.2 При проведении измерения область спектраследует
разбить на интервалы-ступени ДХ, которые перемещаются по от
ношению к выходной щели на расстояния, равные ее ширине.
3.5.5.3 Относительная спектральная плотность энергетической
освещенности в интервале ДХ— (£ дО должна определятьсяна
основании отсчетов фототоков »(Х) и рассчитываться по формуле
-/С(Х)-Д>.=/(Х)-К(>.)•£>(>-)-/вь1(19)
где Xдлина волны,соответствующаясерединевыделяемого
спектрального интервала, нм;
0(Х)обратная линейная дисперсия, нм/мм;
1шых ширина пыходной щели. мм.
Градуировочный коэффициент но спектральной чувствительно
сти /С(Х) должен определяться при тех же щелях, при которых
ведутся измерения.
3.5.5.1Спектр должен быть представлен на графике в виде
соприкасающихся прямоугольников шириной Д?..
В таблице Ж2 приложения Ж дается пример расчета ширины
выходной щели для монохроматора УМ-2 и приводятся данные
измерения лампы с галогенидами металлов.
3.5.5.5 Результаты спектральных измерений оформляют п виде
таблицы значений относительного распределенияспектральной
плотности энергетической освещенности лампы, приведенногок
значению 100 в максимуме или другой удобной точке.
Данные приводятся к равному спектральному интервалу. Спект
ральные линии относятся к тому же спектральному интервалу.
3.6Погрешност и измерений
Метод определения погрешностей измерений спектральных ха
рактеристик электрических ламп приведен в приложении К.
Расчеты по данной методике показывают, что относительная
14