ГОСТ 23198-94
3.2.5.9При проведении измерений на приборах с переменной
дисперсией ширину выходной щелимм, для каждого спект
рального интервала рассчитывают по формуле
(
2
)
где ДА— выделяемый спектральный интервал, нм (ступень);
D(\) — обратная линейная дисперсия, нм/мм.
3.2.6 Положение преобразователяизлучениязавыходной
щелью при измерениях выбирается таким образом, чтобы фото
катод полностью перехватывал выходящее из монохроматора из
лучение, при этом необходимо обеспечивать облучение большей
части поверхности катода. Выбранное положение преобразователя
излучения необходимо сохранять неизменным.
3.2.7 Измерения ламп должны проводиться при температуре
окружающей среды от 18 до 25 °С при нормальных условиях по
ГОСТ 15150.
3.3 Методы градуировки а ппа ра т у ры
3.3.1 Градуировка по длинам волн
Градуировка шкалы длин волн спектрального прибора должна
проводиться по линиям ртутного, кадмиевого, неонового, гелиево
го, цинкового, таллиевого. натриевого и цезиевого спектров в со
ответствии с таблицей Б.2 приложения Б.
3.3.1.1 Для градуировки по длинам волн должны быть исполь
зованы спектральные лампы низкого давления, имеющие линей
чатый спектр излучения.
3.3.1.2 Спектральная лампа центрируется на рельсе перед кон
денсором и проектируется на щель так, чтобы последняя была
полностью освещена и было соблюдено полное заполнение вход ной
аппертуры спектрального прибора.
33.1.3 Для повышения точности градуировку необходимо про
водить при узких щелях, но не сужать их до такой степени, чтобы
ширина изображения определялась в основном аберрациями.
3.3.1.4 Д
ля
облегчения ориентации положенияспектральных
линий по шкале барабана длин волн первоначальная градуировка
должна осуществляться визуально путем наблюдения основных
линий в плоскости выходной щели через окуляр.
3.3.1.5 Наиболее точная градуировка по длинам волн должна
проводиться фотоэлектрическим методом, когда правильная уста
новка линии находится по максимальному фототоку при прокру
чивании шкалы длин волн вблизи данной линии
3.3.1.6 У спектральных приборов со шкалой, отградуированной
непосредственно в длинах волн, точное соответствие между шка
лой и истинными значениями устанавливаемых длин волн должно
8