ГОСТ 23I9S-94
3.5.4Разделение линий и фона рекомендуется проводить одним
из описанных ниже методов.
3.5.4.1 При выбранных входной и выходной щелях (3.2.5) оп
ределяют максимальное значение отсчета фототока, которое про
порционально суммарному излучению линии и фона. Относитель
ное распределение спектральной плотности энергетической осве
щенности линии рассчитывают по формулам:
(,4>
(15)
>
где £&,*(?.) —относительное распределение спектральной плот
ности энергетической освещенности измеряемой
лампы, обусловленное сплошным фоном в месте
излучения линии, отн.ед./нм;
1
л«х(Х) —показание прибора, измеряющегомаксимальное
значение фоготока, обусловленное излучением ли
нии и фона измеряемой лампы.
Значение £>.. $ (?.) в месте излучения спектральной линии
должно определяться интерполяцией между соседними значениями.
Вычисление относительного распределения спектральной плот
ности энергетической освещенности по результатам измерения лю
минесцентной лампы приведено в таблице Ж1 приложения Ж-
П р и м е ч а н и е . При непосредственном измерении ламп без диффузно от-
рзжаюшей пластины, с которой проводилась градуировка спектрального прибора по
рабочей лампе, расчет отшкительяого распределения спектральной плотно сти
энергетической освещенности измеряемой лампы доджейпроводиться с
утсто
.1
спектрального коэффициента отражения пластины.
3.5.4.2 Второй метод отделения линий от фона графическим
способом должен выполняться экстраполяцией верхней части кри
вой (рисунок 2) к нулевому значению ширины щели, при этом
получается доля фототока преобразователя, обусловленная излу
чением линии (д(>.) при ширине выходной щели
Доля фототока, обусловленная излучением сплошного фона
«♦(
а
)
в
месте излучения спектральной линии при ширине выход ной
щели 1,их. определяется экстраполяцией кривой фототокз от
непрерывного фона
(«вьЮ -МЧ • *’♦<»•(16)
Относительную спектральную плотность энергетической осве
щенности линии Е(Х) рассчитывают по формуле
(17)
Ц ’Н С { ’){ ^ ’)-<*(>•)!.(18)
13