ГОСТ Р ИСО 26262-10— 2014
£ (*.),
х т .
8= —-------------
Чп
Применение этих формул приводит к величине фактора снижения от температуры равного 2,91, что приво
дит к результатам, представленным в таблице А.4.
Таблица А.4 — Пример вычисления эффективной интенсивности отказов (FIT) для компонентов
Элемент схемы
Базовое значение
FIT
Фактор сниженияот темпе
ратуры
ЭфФектиеое
значение FIT
ЦП, состоящий из 50 тыс. логических
элементов
1.72
2.91
Статическое ОЗУ— 16 кВ
8.80
2.91
Сумма
5.01
25.61
30.62
А.3.4.2.3 Пример влияния корпуса на интенсивность отказов
Интенсивность отказов, связанная с корпусом, рассчитывается по формуле, приведенной в 7.3.1 документа
[8] («MATHEMATICAL MODEL») с использованием следующих параметров:
л(1— коэффициент влияния, связанный с разницей коэффициентов теплового расширения подложки и ма
териала корпуса;
(хД — кй коэффициент влияния, связанный с числом ежегодных циклов колебаний температуры корпуса с
амплитудой ДТ.
ДГ; — /-Яамплитуда колебаний температуры используемого профиля;
— базовая интенсивность отказов корпуса интегральной схемы.
Для данного примера предполагаем, что микроконтроллер на КМОП технологии потребляет 0.5 Вт.Микрокон
троллер на кристалле помещен в 144-контактный плоский корпус с выводами с четырех сторон и охлаждается за
счет естественной конвекции. В результате увеличение температуры перехода ДТ, равно 26.27 "С. Микроконтрол
лер подвергается воздействию температуры профиля «устройство управления двигателем».
Коэффициент влияния л(( рассчитывается по формуле, приведенной в 7.3.1 документа (8} («MATHEMATICAL
MODEL»), с учетомлинейных коэффициентов теплового расширения а5и асдля подложки и компонента соответ
ственно. В данном примере предполагаем, что подложка из стеклоэпоксидной смолы (FR4). а корпус пластиковый,
для которых из таблиц получаем значения «5= 16 и «с= 21,5.
Так какдля автомобильного профиля число циклов в год S8760, то (кД рассчитывается по формуле, приве
денной в 7.3.1 документа (8] («Математическое выражение оценки фактора влияния (пД»), где л(— число циклов в
год с амплитудой ДГ(.
Для расчета Х3в FIT используется формула для корпусов, у которых штырьки выводов расположены по кра
ям. считая, что ширина корпуса равна 20 мм. а шаг штырьков выводов — 0.5 мм (таблица 176 в {8]).
Используя температурный профиль «устройство управления двигателем», для общей интенсивности отка
зов корпуса получим=207 FIT.
Интенсивность отказов корпуса может быть равномерно распределена между штырьками выводов, что при
водит к интенсивности отказов штырька= 1.44 FIT.
П р и м е ч а н и е — Оценка интенсивности отказов корпуса основана на знании конструкции и тепловых
характеристик корпуса и печатной платой системы. Вместо применения [8] может быть использована совместная
консервативная оценка интенсивности FIT корпуса поставщиком микроконтроллера и разработчиком системы.
А.3.4.2.4 Пример отказов в результате электрического перенапряжения
Интенсивность отказов для всего устройства из-за электрического перенапряжения может быть рассчитана
по формуле, приведенной в 7.3.1 документа [8] («MATHEMATICAL MODEL»). Если устройство имеет непосред
ственный контакт с внешней средой, т.е. устройство представляет собой интерфейс, то л, равно единице. Если
устройство не является интерфейсом, то есть оно не имеет непосредственного контакта с внешней средой и л,
равно нулю.
В (8) предлагаются различные значения XE0S (EOS — электрическое перенапряжение) для различных элек
трических сред. Ксожалению, электрическая среда автомобиля не представлена. Вместо нее можно выбрать сре ду
«гражданская авионика (бортовые ЭВМ)», для которой Л£05 = 20 FIT.
Это приводит к интенсивности отказов из-за электрических перенапряжений для всего устройства,
либо= 20 FIT. если устройство имеет непосредственный контакт с внешней средой, либо
= 0 FIT влюбом другом случае.
52