ГОСТ Р ИСО 26262-10—2014
Пример
—
Сбой в регистре, хранящем связанную с безопасностью константу (т.е. т олько один
раз записанное значение, но считываемое в каждом такте, и если оно неверно, то происходит наруше
ние цели безопасности), никогда не безопасно. Если вместо этого, например, каждые Ю ме происходит
запись в регистр значения, которое используется для связанного с безопасностью расчета только
один раз, спуст я 1 мс после записи, то случайный кратковременный сбой в регистре приведет в 90%
случаев к безопасному сбою, пот ому что сбой в этом регистре за оставшиеся 90% времени такта не
приведет к нарушению цели безопасности.
П ри ме чан ия
1 Как видно из примечании 2 к 8.4.7 ИСО 26262-5. кратковременные сбои могут быть учтены с помощью
метрики одиночного сбоя. Кратковременные сбои не рассматриваются так. как рассматриваются скрытые сбои.
Охват вида отказов, вычисляемый для скрытых сбоев, не вычисляется для кратковременных сбоев, так как их ос
новная причина быстро исчезает (по определению кратковременных сбоев). Кроме того, предполагается, что в по
давляющем большинстве случаев их влияние будет быстро устранено, например, следующим циклом выключения
питания, удаляющим ошибочное состояние триггера или ячейки памяти, которое было изменено кратковременным
сбоем до того, как второй сбой может привести к возникновению множественного отказа. В особых случаях это
может быть недопустимо и могут понадобиться дополнительные меры, однако они могут быть рассмотрены в за
висимости от конкретной ситуации.
2 Кратковременные сбои, возникшие в одной подчасти, непреднамеренно не распространяются к другим
подчастям, если это подчасти логически не связаны.
3 Некоторые из значений охвата диагностикой механизмами безопасности, определенные в таблицах
D.2- D.14 приложения D ИСО 26262-5. действительны только для постоянных сбоев. Это важное различие может
быть найдено в соответствующем описании механизма безопасности, в котором написано, как значение
охвата может рассматриваться для кратковременных сбоев.
Пример
—
Типичное значение охвата RAM тестом «марш» (таблица D.6 ИСО 26262-5) оценива
ется как высокое. Однако в соответствующ ем описании (D.2.5.3 ИСО 26262-5) указано, что эти типы
тестов не являют ся эф фективными при обнаружении исправимых ошибок. Поэтому, например, охват
RAM тестом ямарш» кратковременных сбоев равен нулю.
Если используется качественный подход, то дается обоснование на основе проверки эффективности меха
низмов безопасности, реализованных (или внутри микроконтроллера или на уровне системы) для охвата кратко
временных сбоев.
Пример
—
Д ля элементов канала передачи данных временная избыточность при обработке дан
ны х (т.е. обработка одной и т ой же информации несколько раз) уже будет гарантировать вы сокий
уровень защиты от кратковременных сбоев.
А.3.4 Получение значений базовой интенсивности отказов, которые могут использоваться для микро
контроллеров
А.3.4.1 Общие положения
Как указано в8.4.3 ИСО 26262-5. данные об интенсивностях отказов могут быть получены из признанных от
раслевых источников. Вследующем списке даны примеры стандартов исправочников, из которых можно получить
значение базовой интенсивности отказа для метода, определенного в А.3.3 и А.3.3.2:
- для постоянных сбоев: данные, предоставленные промышленностью полупроводников, или использование
стандартов, таких как МЭК/ТО 62380 [8]. SN 29500 (6].
П р и м е ч ан и е — Для постоянных сбоев: данные, предоставленные промышленностью полупроводников,
могут быть основаны на значении числа (случайных) отказов, деленном на эквивалентное число часов работы при
бора. Существующие полевые данные или полученные из ускоренных испытаний (как определено в
стандартах, таких как JEDEC и АЕС) масштабируются до режима работы (например, температуры, периодов
включения’вы-ключения) и предполагается, что интенсивности отказов постоянны (отказы случайные,
распределены экспоненци ально). Числовые значения могут быть представлены в виде максимального количества
отказов вединицу времени (FIT) на основе уровня доверительной вероятности статистических методов получения
выборок;
- для кратковременных сбоев: данные, предоставленные промышленностью полупроводников, полученные
из JEDEC стандартов, таких как JESD89. ITRS (International Technology Roadmap for Semiconductor).
П р и м е ч а н и е — Если должным образом подтвердить доказательствами, то базовые интенсивности
отказов, полученные из стандартов и справочников, могут быть сформированы с учетом других факторов, таких
как плотность расположения регистров и вероятность возникновения постоянных сбоев между включением и вы
ключением зажигания и т.д.
А.3.4.2 Пример расчета интенсивности отказов (FIT) микроконтроллера на кристалле по МЭЮТО62380
В 8.4.3 ИСО 26262-5 установлено, что значения интенсивностей отказов могут быть получены из признанных
отраслевых источников, например, МЭК/ТО 62380. МЭК 61709. MIL217 FHDBK notice 2. RIAC HDBK 217 Plus. Ниже
49