ГОСТ Р ИСО/ЛСТМ 51431-2012
Рисунок 1- Схема, показывающая длину и ширину сканирующего пучка в
конвейерной системе
3.1.4.1 Замечание - (1) Этот термин обычно применяется при электрон
ном облучении. (2) Таким образом, длина пучка перпендикулярна ширине
пучка и оси электронного пучка. (3) В случае низкоэнергетического ускори
теля электронов с одним зазором длина пучка равна активной длине катод
ной системы в вакууме. (4) В случае неподвижного во время облучения про
дукта «длина пучка» и «ширина пучка» могут быть взаимозаменяемы.
3.1.5ширина пучка (beam width): Размер зоны облучения перпендику
лярно направлению перемещения продукта на заданном расстоянии от окна
ускорителя (см. рисунок I).
3.1.5.1 Замечание — (1) Этот термин обычно применяется при элек
тронном облучении. (2) Таким образом, ширина пучка перпендикулярна дли
не пучка и оси электронного луча. (3) В случае неподвижного во время облу
чения продукта «ширина пучка» и «длина пучка» могут быть взаимозаме
няемы. (4) Ширина пучка может быть количественно определена как рас
стояние между двумя точками профиля дозы, которые соответствуют задан
ной доле от максимального значения дозы в профиле (см. рисунок 2). (5) Мо
гут быть использованы различные методы для создания ширины электронно
го пучка, достаточной для покрытия зоны обработки, например применение
8