ГОСТ Р 56512—2015
14.8 На стационарных рабочих местах осмотра объектов должно применяться только комбини
рованное освещение (общее совместно с местным). Как правило, должны использоваться разрядные
лампы: для общего освещения — типа ЛБ. ЛХБ. МГЛ. для местного — типа ЛБЦТ. ЛДЦ, ЛДЦ УФ. Для
местного освещения допускается применение ламп накаливания, но только в молочной или матиро
ванной колбе. Могут использоваться галогенные лампы. Но ксеноновые лампы применяться не долж
ны. Для исключения появления бликов на полированных объектах контроля, смоченных магнитной
суспензией, рабочие места осмотра оборудуют светильниками с непросвочивающими отражателями
или рассеивателями так. чтобы их светящиеся элементы и лучи, отраженные от объектов контроля, не
попадали в поле зрения работающих. Местное освещение рабочих мест должно быть оборудовано
регуляторами освещения.
14.9 На стационарных рабочих местах осмотра объектов в виде стола материал и цвет покрытия
его рабочей поверхности выбирают так, чтобы уменьшить яркостные контрасты в поле зрения дефекто-
скописта. ускорить переадаптацию при чередовании наблюдения объекта контроля и фона, обеспечить
устойчивость контрастной чувствительности глаза, а также не допустить слепящего действия света,
отраженного от покрытия. Например, при осмотре шлифованных объектов контроля и других
объектов со светлой поверхностью рабочую поверхность стола покрывают неблестящим светло-
зеленым, свет ло-голубым или зеленовато-голубым пластиком.
При осмотре объектов, контролируемых с применением люминесцирующего магнитного индика
тора. рабочая поверхность стола должна рассеивать или поглощать ультрафиолетовые лучи.
14.10 Осмотр объектов контроля, обработанных суспензией с люминесцентным магнитным по
рошком. проводят при ультрафиолетовом облучении. Уровень облученности контролируемой поверх
ности ультрафиолетовым излучением должен быть не ниже 2000 мкВт/см2. Длина волны ультрафиоле
тового излучения должна быть в диапазоне от 315до 400 нм с максимумом излучения примерно 365 нм.
При этом освещенность зоны контроля видимым светом должна быть не более 20 лк.
УФ-облученность контролируют ультрафиолетовым радиометром или другим измерителем ин
тенсивности ультрафиолетового излучения один раз в месяц, если иное не установлено отраслевыми
нормами.
14.11 При анализе и расшифровке индикаторных рисунков дефектов различают осаждения маг
нитного порошка на реальных дефектах от ложных осаждений. При отсутствии дефектов осаждения
магнитного порошка могут наблюдаться в местах:
- резких переходов от одного сечения контролируемого объекта к другому;
- резкого местного изменения магнитных свойств металла (например, по границе зоны термиче
ского влияния или по границе «металл шва — основной металл») и т. п.;
- касания намагниченного объекта каким-либо ферромагнитным предметом (отверткой, другой
деталью и др.):
- расположения риски, царапины и грубой обработки поверхности;
- границы наклепанной поверхности;
- группы мелких забоин;
- расположения карбидной полосчатости металла;
- расположения границ незачищеиных сварных швов и границ сварных швов, выполненных аусте
нитными электродами.
Как правило, в указанных местах образуются размытые, нечеткие осаждения магнитного порош
ка. Для определения причин осаждения магнитного порошка в таких случаях оценивают особенности
конструкции объекта в этой зоне, проводят осмотр очищенной поверхности с использованием оптиче
ских средств, выполняют повторный магнитопорошковый контроль либо контроль другим методом.
14.12 Участокосмотра объектов целесообразнообеспечивать отбракованными объектами контро
ля с выявленными дефектами идефектограммами. изготовленными в соответствии с приложением Г.
14.13 В целях повышения качества контроля целесообразно через каждый час работы по осмо
тру контролируемой поверхности, в том числе при осмотре на экране компьютера, делать перерыв на
10—15 мин.
14.14 Результаты контроля оценивают в соответствии с нормами, предусмотренными документа
цией на изготовление, ремонт, реконструкцию или эксплуатацию объектов контроля.
Качество объектов контроля допускается оценивать как по индикаторным рисункам, так и по ха
рактеру реальных обнаруженных дефектов: их размерам, количеству и распределению по поверхности
проверяемых объектов.
22