ГОСТ Р МЭК 61508-6-2012
следующее.
Для вычисления интенсивности отказов структуры, состоящей из последовательно
соединенных компонент, необходимо просто сложить интенсивности отказов каждой из
компонент. Для структуры на рисунке В.1 можно написать следующее:
Л(г) = ЛаЬс(0 + xCCF1(r) + Ad(r) + ЛеГ(г) + /.CCR(r)f
где A{t) означает интенсивность полного отказа Э/Э/ПЭ системы, связанной с
безопасностью, ■4*bc(O»^CCF1(O»^d(OM*f(0»^CCF2(r) являются интенсивностями отказов
пяти минимальных сечений.
Для параллельных структур все сложнее, так как в этом случае нет простых
соотношений с интенсивностями отказов отдельных компонент. Например, рассмотрим
сечение (Е, F):
1) Если Е и F не могут быть мгновенно восстановлены (например в случае DU
отказа), ^ef(t) изменяется непрерывно от 0 до Л (интенсивность отказов Е или
F). Асимптотическое значение достигается, когда одна из двух компонент вот-
вот откажет. Это довольно длительный процесс, т.к. это проявляется, когда t
становится больше. Данное значение никогда не будет достигнуто,
если Ей F периодически проверяют с периодом ’ <<:1/л.
2) Если Е и F могут быть восстановлены в относительно короткий период
времени (например в случае DD отказа), ЛеГ(г) очень быстро достигает
еГ—
асимптотического значения
Л
As
=
И , которое может быть использовано как
эквивалент постоянной интенсивности отказов. Это значение достигается,
когда t становится в 2-3 раза больше, чем значения MTTR компонентов. Этот
особый случай полностью и быстро восстанавливаемых систем описан выше.
Таким образом, в общем случае, оценка интенсивностей отказов всей системы
требует более сложных вычислений, чем для более простой последовательной
структуры.
В.З Метод блок-схемы надежности при постоянной интенсивности отказов
В.3.1 Основная гипотеза
Расчеты основываются на следующих предположениях:
24