ГОСТ Р МЭК 61508-6-2012
/3 - фактор отказов по общей причине для необнаруживаемых опасных отказов,
который равен общему /3-фактору, применяемому в отсутствие диагностического
тестирования;
А00 -интенсивностьобнаруженных опасных отказов одного канала(т.е.
интенсивность опасных отказов одного канала), находящихся в области охвата
диагностического тестирования; если частота проведения диагностического тестирования
высока, доля обнаруженныхотказов ведет куменьшению значения/3,т.е. /30;
Ро- Доля опасных отказов по общей причине, обнаруживаемых диагностическими
тестами. С увеличением частоты проведения диагностического тестирования значение
ро становится меньше /3.
Значение р определяется по таблице D.5, которая использует результаты D.4, с
помощью оценки S « X + У(см. D.5).
Значение р0 определяется по таблице D.5, которая использует результаты D.4, с
помощью оценки SD= X(Z+1)+V.
D.5 Использование таблиц для оценки р
Оценку /3-фактора рассчитывают отдельно для датчиков, логической подсистемы
и исполнительных элементов.
Чтобы свести к минимуму вероятность возникновения отказов по общей причине,
следует сначала определить средства, эффективно защищающие от появления таких
отказов. Реализация соответствующих средств в системе ведет к уменьшению значения
/3-фактора, используемого при оценке вероятности отказа системы из-за отказов по
общей причине.
Мероприятия и соответствующие им значения (баллы) параметров X и Y,
полученные с помощью инженерной оценки и описывающие вклад каждого из
мероприятий в уменьшение числа отказов по общей причине, перечислены в таблице
D.1. Так как датчики и исполнительные элементы анализируются иначе, чем
программируемая электроника, в таблице D.1 используются столбцы XLS и Ycs для
программируемых электронных средств и столбцы XSF и Ysr для датчиков или
исполнительных элементов.
Программируемые электронныесистемымогутиспользоватьинтенсивное
диагностическое тестирование, позволяющее обнаруживать неодновременные отказы
по общей причине. Для учета диагностического тестирования при оценке /3-фактора
общий вклад каждого из мероприятий в таблице D.1 разделен с использованием
инженерной оценки на наборы значений X и Y. Для каждого конкретного мероприятия
отношение X.Yпредставляет собой меру повышения вклада этого мероприятия в борьбу с
отказами по общей причине благодаря диагностическому тестированию.
116