ГОСТ Р МЭК 61508-6-2012
Иногда процедуры диагностического тестирования не рассматриваются как
необходимые для обеспечения безопасности, поэтому их уровень обеспечения качества
может быть ниже, чем процедур, обеспечивающих основные функции управления.
Данная методика быларазработана в предположении,что уровень полноты
безопасностидлядиагностическоготестированиясоответствуеттребуемому.
Следовательно, любые программныепроцедуры диагностического тестирования
должны разрабатываться с использованием методов, соответствующих требуемому
уровню полноты безопасности.
D.4 Использование /3-фактора для вычисления вероятности отказа Э/Э/ПЭ
системы, связанной с безопасностью, из-за отказов по общей причине
Влияниеотказовпообщейпричиненамногоканальнуюсистемус
диагностическим тестированием следует рассматривать в каждом из каналов системы.
Используя модель /3-фактора, для интенсивности опасных отказов по общей
причине получим До/3, где До -интенсивность опасных случайных отказов аппаратных
средств для каждого отдельного канала, а р - /3-фактор в отсутствие диагностического
тестирования, т.е. доля отказов одного канала, влияющих на все каналы.
Предположим, что отказы по общей причине влияют на все каналы, а промежуток
времени между таким влиянием на первый и остальные каналы мал по сравнению с
интервалом времени между последовательными отказами каналов по общей причине.
Пусть в каждом канале применяется диагностическое тестирование, которое
обнаруживает и вскрывает часть отказов. Отказы подразделяют на две категории:
отказы, которые находятся вне охвата диагностического тестирования (т.е. никогда не
могут быть обнаружены), и отказы в пределах охвата (которые, в конечном счете, будут
обнаружены диагностическим тестированием).
Поэтому общую интенсивность отказов системы, вызванных опасными отказами
по общей причине, вычисляют по формуле
S’OuP
+
^-ооРо
.
где Аои -интенсивностьнеобнаруженныхотказоводногоканала,т.е.,
интенсивность опасных отказов, находящихся за пределами охвата диагностического
тестирования; очевидно, любое уменьшение /3 - фактора, являющееся следствием
частоты проведения диагностического тестирования, не может повлиять на Аои\
115