Хорошие продукты и сервисы
Наш Поиск (введите запрос без опечаток)
Наш Поиск по гостам (введите запрос без опечаток)
Поиск
Поиск
Бизнес гороскоп на текущую неделю c 22.12.2025 по 28.12.2025
Открыть шифр замка из трёх цифр с ограничениями

ГОСТ Р ИСО 16962-2012; Страница 18

или поделиться

Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы ГОСТ Р ИСО/МЭК 29109-1-2012 Информационные технологии. Биометрия. Методология испытаний на соответствие форматам обмена биометрическими данными, определенных в комплексе стандартов ИСО/МЭК 19794. Часть 1. Обобщенная методология испытаний на соответствие (Настоящий стандарт определяет концепцию, типы испытаний и методики испытаний на соответствие записей для обмена биометрическими данными в соответствии с комплексом стандартов ИСО/МЭК 19794 или вычислительных алгоритмов создания записей для обмена биометрическими данными. Настоящий стандарт определяет два типа (A и В) и три уровня (1, 2 и 3) испытаний на соответствие, но предоставляет подробное описание и методику трех уровней испытания типа А. Поскольку в испытаниях уровня 1 и уровня 2 встречается много общих элементов, испытания этих уровней определяются с помощью тестовых утверждений; язык тестовых утверждений определен в настоящем стандарте. В настоящем стандарте не рассматриваются испытание других характеристик биометрических продуктов и другие типы испытаний биометрических продуктов (то есть степень приемлемости, производительность, устойчивость, уровень безопасности). Также настоящий стандарт не распространяется на:. - подробное описание элементов испытаний и утверждений и описание любых обязательных стандартных наборов данных, необходимых для испытания, которые определены в других стандартах комплекса ИСО/МЭК 29109, каждый из которых устанавливает требования к испытаниям на соответствие базовому стандарту;. - проверку того, могут ли тестируемые реализации, претендующие на использование соответствующих записей для обмена биометрическими данными, корректно обрабатывать подобные записи для обмена биометрическими данными (испытание типа В)) ГОСТ Р ИСО 17925-2012 Покрытия на основе цинка и/или алюминия на стали. Определение химического состава и массы покрытия на единицу площади поверхности. Методы гравиметрический, атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой и пламенной атомно-абсорбционной спектрометрии (Настоящий стандарт устанавливает определение химического состава и массы на единицу площади поверхности покрытия на основе цинка и/или алюминия одной стороны поверхности стали следующими методами: гравиметрическим, атомно-эмиссионным с индуктивно связанной плазмой или пламенным атомно-абсорбционным) ГОСТ Р 55041-2012 Оптика офтальмологическая. Линзы контактные и средства ухода за ними. Руководство по клиническим испытаниям (Настоящий стандарт устанавливает руководство по клиническим испытаниям (далее - КИ) безопасности и эксплуатационных характеристик контактных линз и средств ухода за ними)
Страница 18
Страница 1 Untitled document
ГОСТ РИСО 169622012
qIBl — скорость распыления, выраженная как скорость потери массы на единицу площади в образце сравне
ния;
RUi — преобразованное (инверсное) значение выхода эмиссии элемента i на спектральной линии X(приме
чание 1):
J/x интенсивность спектральной линии X элемента г,
В, значение интенсивности спектрального фона на длине волны X, % масс. ( можно трактовать как
постоянную величину или как некоторую комплексную функцию, данную в единицах массовой доли,
предложенную производителем);
Sjirei приведенное значение интенсивности спектрального фона на длине волны X. которое представлено в
уравнении (А.2). в единицах массовой доли, часто понимают как «фон эквивалентной концентрации» и
трактуют как константу или функцию, предложенную производителем (см. также примечание 2):
q,olfqu равен 1f[qu lqlat) поправочный коэффициент скорости распыления.
Приме чание 1Ryi) — преобразованное значение выхода эмиссии элемента i на спектральной линии
X. связанное с величиной эмиссии R2l* уравнением
*.,x=1/(9for*2.x)..З)
где значение выхода эмиссии определяется как
^ х = (/а-ЬхУ(с««7м).(А4)
где Ьу значение интенсивности спектрального фона на длине волны X.
П р и м е ч а н и е 2 — Два обозначения спектрального фона соотносятся как
B.tti = (Як*1<7u)В,_.(А.5)
Уравнения (А.1) и (А.2) можно преобразовать в нелинейные градуировочные зависимости с учетом
поправок второго и более высокого порядка. Иллюстрацией таких нелинейных градуировочных зависимостей
.1) и (А.2 )являются соответственно:
с.м(qM I Фв|)= Я«<х’Ах+ Six’/**2- By(А.6)
и
с,м=Rui’lii. (Qrat1Яи) * 8ik’lik(<htlQu) - В>м-(А.7)
j
где S
x
это поправочный коэффициент, учитывающий степень нелинейности.
Настоящие градуировочные зависимости были получены регрессионным анализом градуировочных дан
ных с использованием метода наименьших квадратов.
Параметр qt e представляющий собой скорость распыления с единицы площади, часто используют для
таких материалов, как низколегированная сталь. Замечено, что для некоторых градуировочных образцов на
основе стали относительные скорости распыления и поправочные коэффициенты для скорости
распыления приближаются к единице и не чувствительны к условиям в разряде плазмы.
П р и м е ч а н и е 3 — Значения спектрального фона в уравнениях (А.1) и (А.2) не являются постоянными,
а в той или иной степени зависят от матрицы, как было приведено в 4.2.3.1 настоящего стандарта. В практической
работе всегда предпочтительнее выбирать наименьшее значение измеренной интенсивности, как фиксирован
ный спектральный фон для каждой спектральной линии.
П р и м е ч а н и е 4 — Все имеющиеся в распоряжении коммерческие приборы, произведенные в
последнее время, позволяют проводить коррекцию фона и учитывать межэлементные влияния.
А.З Расчет градуировочных зависимостей с использованием абсолютных скоростей распыления
Градуировочную зависимость определяют одним из следующих уравнений:
смЯи - Яьх-Ах _ В’х
(А.8)
с.м=Я’ттх’АхIq’u - б’хго),
(А.9)
где см — массовая доля элемента гв образце М,
Я’и скорость распыления, выраженная как скорость потери массы в образце М.
Ящ преобразованное (инверсное) значение выхода эмиссии элемента / для спектральной линии X (приме
чание 1);
Ах интенсивность спектральной линии X элемента /;
В\ значение интенсивности спектрального фона на длине волны X. % масс., умноженное на скорость рас
пыления (можно трактовать как постоянную величину или некоторую комплексную функцию, данную
в единицах массовой доли, ухтноженную на скорость распыления, предложенную производителем при
бора);
Sxfoi— приведенное значение спектрального фона на длине волны X, % масс., умноженное на скорость распы
ления. которое дано в уравнении (А.9).
15