Хорошие продукты и сервисы
Наш Поиск (введите запрос без опечаток)
Наш Поиск по гостам (введите запрос без опечаток)
Поиск
Поиск
Бизнес гороскоп на текущую неделю c 22.12.2025 по 28.12.2025
Открыть шифр замка из трёх цифр с ограничениями

ГОСТ Р ИСО 16962-2012; Страница 17

или поделиться

Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы ГОСТ Р ИСО/МЭК 29109-1-2012 Информационные технологии. Биометрия. Методология испытаний на соответствие форматам обмена биометрическими данными, определенных в комплексе стандартов ИСО/МЭК 19794. Часть 1. Обобщенная методология испытаний на соответствие (Настоящий стандарт определяет концепцию, типы испытаний и методики испытаний на соответствие записей для обмена биометрическими данными в соответствии с комплексом стандартов ИСО/МЭК 19794 или вычислительных алгоритмов создания записей для обмена биометрическими данными. Настоящий стандарт определяет два типа (A и В) и три уровня (1, 2 и 3) испытаний на соответствие, но предоставляет подробное описание и методику трех уровней испытания типа А. Поскольку в испытаниях уровня 1 и уровня 2 встречается много общих элементов, испытания этих уровней определяются с помощью тестовых утверждений; язык тестовых утверждений определен в настоящем стандарте. В настоящем стандарте не рассматриваются испытание других характеристик биометрических продуктов и другие типы испытаний биометрических продуктов (то есть степень приемлемости, производительность, устойчивость, уровень безопасности). Также настоящий стандарт не распространяется на:. - подробное описание элементов испытаний и утверждений и описание любых обязательных стандартных наборов данных, необходимых для испытания, которые определены в других стандартах комплекса ИСО/МЭК 29109, каждый из которых устанавливает требования к испытаниям на соответствие базовому стандарту;. - проверку того, могут ли тестируемые реализации, претендующие на использование соответствующих записей для обмена биометрическими данными, корректно обрабатывать подобные записи для обмена биометрическими данными (испытание типа В)) ГОСТ Р ИСО 17925-2012 Покрытия на основе цинка и/или алюминия на стали. Определение химического состава и массы покрытия на единицу площади поверхности. Методы гравиметрический, атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой и пламенной атомно-абсорбционной спектрометрии (Настоящий стандарт устанавливает определение химического состава и массы на единицу площади поверхности покрытия на основе цинка и/или алюминия одной стороны поверхности стали следующими методами: гравиметрическим, атомно-эмиссионным с индуктивно связанной плазмой или пламенным атомно-абсорбционным) ГОСТ Р 55041-2012 Оптика офтальмологическая. Линзы контактные и средства ухода за ними. Руководство по клиническим испытаниям (Настоящий стандарт устанавливает руководство по клиническим испытаниям (далее - КИ) безопасности и эксплуатационных характеристик контактных линз и средств ухода за ними)
Страница 17
Страница 1 Untitled document
ГОСТ Р И С 0169622012
Приложение А
(обязательное)
Расчет градуировочных характеристик и уравнений
количественной оценки глубины профилей
7
А.1 Обозначения
А.1.1 Обозначения, использованные в настоящем приложении
ач — атомная доля элемента / в сегменте ];
Аи площадь кратера в образце М,
см — массовая доля элемента i в образце М:
с, м/ — массовая доля элемента / в сегментеj образца М;
Л/, время распыления для сегмента у
/ элемент/;
£>. — интенсивность спектральной линии X элемента /;
j— сегмент глубины профиля;
М,м — общая масса, распыляемая с единицы поверхности для сегментаJ;
р плотность чистого элемента /;
рплотность в сегментеj :
w, — атомный вес элемента /’;
z) толщина сегмента /.
A.1.2 Обозначения, используемые в А.2 и А.4, касающиеся относительных скоростей распыления
B, значение интенсивности спектрального фона на длине волны X, % масс.;
8>.rai — приведенное значение интенсивности спектрального фона на длине волны X. %;
Ь, значение интенсивности спектрального фона на длине волны X;
/с,м(quотносительная скорость распыления элемента / в сегменте/.
к,7 коэффициент, определяемый преобразованным (инверсным) значением выхода эмиссии элемен
та I для спектральной пинии X и относительной скоростью распыления;
т, и) распыленная масса единицы площади для элемента / сегмента } образца М.
Чи скорость распыления, выраженная как скорость потери массы на единицу площади в образце М: <.ц,
скорость распыления, выраженная как скорость потери массы на единицу площади в сегментеу; qu
Гог отношение скоростей распыления образца М и образца сравнения:
Ф«т» — отношение скоростей распыления образца сравнения и образца М:
преобразованное (инверсное) значение выхода эмиссии элемента / на спектральной линии к:
Rах значение выхода эмиссии элемента /’ на спектральной линии X;
$а. коэффициент, выражающий степень нелинейности.
А.1.3Обозначения, использованные вА.З и А.5, относящиеся к абсолютным скоростям распыления
В \значение интенсивности спектрального фона на длине волны X. выраженные в % масс., умноженное
на скорость распыления:
В’,ге1 приведенное значение интенсивности спектрального фона на длине волны X, выраженное в
% масс., умноженное на скорость распыления:
{См’Я’и)/ изначальная скорость распыления элемента / в сегменте j :
коэффициент, определяемый преобразованным (инверсным) значением выхода эмиссии элемен
та / для спектральной линии X и скоростью распыления;
Мщ распыленная масса элемента / в сегменте j образца М:
Q’u скорость распыления или скорость потери массы образца М\
О’и, скорость распыления или скорость потери массы в сегменте у.
обратная величина значения эмиссии элемента i на спектральной линии X:
/?
2
/>. значение выхода эмиссии элемента I на спектральной линии X;
S(x коэффициент, выражающий степень нелинейности.
А.2 Расчет градуировочных характеристик с использованием относительных скоростей распыления
Градуировочную зависимость определяют по одному из следующих уравнений:
С,м(Чм/фвт)=- вЛ(А.1)
или
c.u= Rui.-
(А.2)
где c,u— массовая доля элемента / в образце М:
Qu iQiai отношение скоростей распыления образца М и образца сравнения;
qu скорость распыления, выраженная как скорость потери массы на единицу площади в образце М;
14