Хорошие продукты и сервисы
Наш Поиск (введите запрос без опечаток)
Наш Поиск по гостам (введите запрос без опечаток)
Поиск
Поиск
Бизнес гороскоп на текущую неделю c 22.12.2025 по 28.12.2025
Открыть шифр замка из трёх цифр с ограничениями

ГОСТ Р ИСО 16962-2012; Страница 10

или поделиться

Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы ГОСТ Р ИСО/МЭК 29109-1-2012 Информационные технологии. Биометрия. Методология испытаний на соответствие форматам обмена биометрическими данными, определенных в комплексе стандартов ИСО/МЭК 19794. Часть 1. Обобщенная методология испытаний на соответствие (Настоящий стандарт определяет концепцию, типы испытаний и методики испытаний на соответствие записей для обмена биометрическими данными в соответствии с комплексом стандартов ИСО/МЭК 19794 или вычислительных алгоритмов создания записей для обмена биометрическими данными. Настоящий стандарт определяет два типа (A и В) и три уровня (1, 2 и 3) испытаний на соответствие, но предоставляет подробное описание и методику трех уровней испытания типа А. Поскольку в испытаниях уровня 1 и уровня 2 встречается много общих элементов, испытания этих уровней определяются с помощью тестовых утверждений; язык тестовых утверждений определен в настоящем стандарте. В настоящем стандарте не рассматриваются испытание других характеристик биометрических продуктов и другие типы испытаний биометрических продуктов (то есть степень приемлемости, производительность, устойчивость, уровень безопасности). Также настоящий стандарт не распространяется на:. - подробное описание элементов испытаний и утверждений и описание любых обязательных стандартных наборов данных, необходимых для испытания, которые определены в других стандартах комплекса ИСО/МЭК 29109, каждый из которых устанавливает требования к испытаниям на соответствие базовому стандарту;. - проверку того, могут ли тестируемые реализации, претендующие на использование соответствующих записей для обмена биометрическими данными, корректно обрабатывать подобные записи для обмена биометрическими данными (испытание типа В)) ГОСТ Р ИСО 17925-2012 Покрытия на основе цинка и/или алюминия на стали. Определение химического состава и массы покрытия на единицу площади поверхности. Методы гравиметрический, атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой и пламенной атомно-абсорбционной спектрометрии (Настоящий стандарт устанавливает определение химического состава и массы на единицу площади поверхности покрытия на основе цинка и/или алюминия одной стороны поверхности стали следующими методами: гравиметрическим, атомно-эмиссионным с индуктивно связанной плазмой или пламенным атомно-абсорбционным) ГОСТ Р 55041-2012 Оптика офтальмологическая. Линзы контактные и средства ухода за ними. Руководство по клиническим испытаниям (Настоящий стандарт устанавливает руководство по клиническим испытаниям (далее - КИ) безопасности и эксплуатационных характеристик контактных линз и средств ухода за ними)
Страница 10
Страница 1 Untitled document
ГОСТ РИСО 169622012
постоянного тока до достижения корректного значения. Обращают внимание на то. чтобы использовалось
смещенное напряжение постоянного тока вединицах, предусмотренных в приборе. Эти же условия затем
используют при градуировке и анализе.
6.2.4 Настройка высокого напряжения детекторов
Выбирают образцы с покрытиями всех типов, которые предполагают анализировать. Используя эти
образцы, включают источник и наблюдают выходныесигналыот детекторов для атомов аналита. Регулиру
ют высокое напряжение детекторов таким образом, чтобы обеспечитьдостаточную чувствительностьдля
самых низких массовых долей аналита. но без насыщения детектора системы при самых высоких массо
выхдолях аналита.
6.2.5 Настройка параметров разряда
Для каждого типа анализируемых образцов выполняют полное измерение глубины покрытия, распы
ляя материал образца в тлеющий разряд достаточно долгое время, чтобы, полностью удалив покрытие,
продолжать процессдо проникновения в основу материала. Наблюдая интенсивность эмиссии как функ
цию времени распыления (что количественно согласуется с глубиной покрытия), подтверждают, что выб
ранная настройка источника дает стабильный сигнал эмиссии по всей глубине профиля (покрытия) и до
основы. Нестабильные сигналы эмиссии могут указывать на термическую неустойчивость поверхности
образца; охлаждение образца влияет на процесс. Если не удается найти условия стабильности сигналов
эмиссии, постепенно снижают значение одного изуправляющих параметров и проводят испытания вновь.
Если стабильность остается неудовлетворительной, постепенно снижают значениедругого управляющего
параметра и продолжают измерения. Процедуру повторяют до тех пор. пока не будут найдены условия
получения стабильных сигналов эмиссии.
6.2.6 Оптимизация формы кратера
Распыляют один из образцов латуни (6.3.2) или неизвестный образец с типичным покрытием на
основе цинка и/или алюминия до глубины приблизительно от 10до 20 мкм (при использовании образца с
покрытием глубина кратера недолжна выходить за пределы слоя покрытия). Измеряют конфигурацию фор
мы кратера профилометром. Повторяют эту процедуру на образце латуни или образце с покрытием не
сколько раз. используя слегка отличающиеся значения управляющих параметров. Выбирают условия,
при которых получают оптимальный вариант кратера с плоским дном.
6.2.7 Предварительная проверка рабочих параметров
Следуетубедиться, что выбранные рабочие параметры адекватно отвечают необходимым требовани
ям. приведенным в4.2. Если эти требования кэксплуатационным характеристикам не удовлетворительны,
следует дополнительно настроить рабочие параметры до необходимого уровня.
6.3 Градуировка
6.3.1 Общие требования
Градуировка системы состоит в определении для каждого аналита и аналитического сигнала на выб
ранной спектральной линии градуировочной зависимости, вид которой представлен вА.2 или А.З приложе
ния А. При проведении градуировки необходимо знать как химический состав, так и скорости распыления
(скорости потери масс) градуировочных образцов.
6.3.2 Градуировочныс образцы
6.3.2.1 Общие требования
По возможности применяют спектральные градуировочные образцы, изготовленные в статусе серти
фицированного стандартного образца состава. Образцы для градуировки не должны быть полностью по
добны материалам покрытий по химическому составу, но необходимо, чтобы скорости распыления были
надежно определены и воспроизводимы. Следует иметь в виду, что чистые или почти чистые образцы
цинка не рекомендуются из-за трудностей в получении воспроизводимых и стабильных результатов скоро
стей распыления цинка. Более того, высокочистые моталлы не нужны для корректной градуировки в обла
сти высоких содержаний аналита. но они подходят для оценки спектрального фона. При выборе градуиро
вочных образцов наиболее важными являются следующие условия;
a) необходимо иметь не менее чем пять градуировочных образцов для каждого аналита вдиапазоне
значений от нуля до наиболее высоких массовыхдолей аналита;
b
)образцы должны быть однородными.
Основываясь на этих общих требованиях, можно использовать следующие градуировочные образ
цы. что не исключает возможности применения образцов сплавовдругих типов, содержащих аналиты.
7