ГОСТ Р ИСО 15202-3—2008
Т а б л и ц а С.1 — Элементы, используемые для испытаний в процедуре QUID, выбранные линии и соответствую
щие им значения энергии Е
Элемент, им
Е
• К
. эВ
Е~ - эВ
Е
пип
.эВ
Ширина линии
Af(l) 40414.69
——
—
Ва(И) 4552.72
5.217.93
3.5 пм
Ва(Н) 2336.01
5.2111.22
1.5 пм
——
—
7.6512.07
—
Мд(1) 285 4.35
Mg(ll) 280 4,42
Zn(II) 2066.01
9.3915.40
—
С.2.2 Анализируемый раствор
Анализируемый раствордолжен содержать ограниченное число элементов, таких какмагний, барий ицинк, в
подходящих массовых концентрациях от 1 до 10 мг/мл. Обычнодостаточно массовой концентрации магния и бария 1
мг/мл. но для цинка может потребоваться большая концентрация. Важно, чтобы массовая концентрация указан ных
элементов оставалась постоянной в ходе ряда экспериментов, поэтому раствор следует стабилизировать,
например добавляя азотную кислоту, чтобы ее объемная доля составляла несколько процентов.
С.З Процедура контроля качества и идентификации неисправностей QUID
С.3.1 Предварительные соображения
С.З.1.1 Определяемые параметры
Параметры, определяемые в рамках процедуры QUID, приведены в таблице С.2. Требования копредепению
данных параметров необходимо учитывать при внедрении настоящей методики выполнения измерений.
С.З.1.2 Напряжение на фотоэлектронном умножителе
Важно использовать одно и то же напряжение на ФЭУ (а также, при необходимости, один и тот же коэффици
ент усиления) при измерении отношения интенсивностей пиний Mg(ll) и Мд{1). В противном случае отношение не
будет иметь физического смысла.
С.3.1.3 Градуировка по длинам волн для вычисления отношения интенсивностей линий Мд(Н)и Мд(1)
В большинстве дисперсионных спектрометров две линии магния расположены так близко друг к другу, что
градуировку подлинам волн можно считатьлинейной. Однако для спектрометров с дифракционной решеткой типа
Эшелле необходимо проводить градуировку подлинам волн, так как две линии магния обычно расположены в раз
ных порядках. Подобную градуировку можно выполнить путем простого измерения интенсивности двух указанных
линий при непрерывной регистрации спектра испускания.
Т а б л и ц а С.2 — Измеряемые параметры в процедуре QUID
Элемент, нм
Ширина на
половине высоты*1
Аналитический
сигнал1”
Интенсивность
фона1*
RSDd)
интенсивности
линии
RSO интенсивности
фона
Аг(1) 404
—
X
—
—
—
Ва<11) 233
X
X
X
X
X
Ва(П) 455
X
X.
X
X
X
Мд(1) 285
—
X
X
X
—
Мд(11) 280
—
X
—
X
—
Zn(ll) 206
—
X
X
X
X
*’ Ширина на половине высоты равна ширине линии испускания, измеренной на половине высоты контура
(линии).
Ь| Аналитический сигнал — это интенсивность с поправкой на фон. Обычно программное обеспечение позво
ляет получить аналитический сигнал линии автоматически. В противном случае может потребоваться опре
деление интенсивности фона на длине волны аналитической линии.
° Интенсивность фона — это значение, используемое для введения поправки на фон. Обычно программное
обеспечение позволяет получить интенсивность фона автоматически. В противном случае может потре
боваться определение интенсивности фона.
в| RSD (Relative Standard Deviation) — относительное стандартное отклонение, обычно выраженное а про
центах.
27