ГОСТ Р ИСО 15202-3—2008
избегают использования линий, на которых проявляется прямое наложение спектральных линий или
наблюдаетсясложное изменениефона, вызванноеналожением несколькихинтенсивных, близко распо
ложенных эмиссионных линий. Для выявления любых проблем, не учтенных при разработке методики,
рекомендуется, повозможности, использовать более одной линиидля каждого аналита.
П р и м е ч а н и я
1 При применении спектрометров с монохроматором пользователи могут свободно выбрать любую область
спектра от ультрафиолетового (УФ)до видимого. При этом по таблицам спектральных линий (см. (11)) пользовате ли
могут выбрать любую подходящую длину волны, свободную от мешающего влияния. При применении спектро
метров сдифракционной решеткой типа Эшелле и (или)полупроводниковыми детекторами также возможен выбор из
большого числа линий. Однако при применении спектрометров с полихроматором возможен выбор только линий,
доступных исходя из конфигурации конкретного используемого спектрометра.
2 При наличии прямогоспектрального перекрыванияи невозможности использования другой линии испуска
ния для определения металла или металлоида возможно введение поправки на межэлементное влияние
(см. 8.1.8).
8.1.6.2Если измерения выполняютс использованием болееоднойаналитическойлиниианалита.
то при этом решают, какпредставить результаты измерений в протоколе.
При составлении протокола анализа учитывают следующее: при выборе для анализа двух анали
тических линий приводят среднее издвух результатов измерений; при выборедля анализа трех анали
тических линий приводят среднее из двух наиболее близких друг к другу результатов измерений; при
выборе для анализа четырех аналитических линий приводят среднее из трех наиболее близких друг к
другу результатов измерений.
8.1.7 Поправка на фон
Проводятсканирование каждойиз предполагаемыханалитическихлинийпри распыленииградуи
ровочного холостого раствора, градуировочногораствора и типичногоанализируемого раствора пробы в
плазму. Изучаютполученные контуры линий ивыбираютточки, в которыхбудут проведены измерения
для введения поправки на фон. Выполняют измерения в одной точкедля введения поправки на простое
смещение фона. т.е. смещение интенсивности фона, которое практически постоянно взаданномдиапа
зоне, например на расстоянии 0.5 нм, по обе стороны от линии испускания аналита. Для введения
поправки насмещение фона, имеющего наклон, измерения выполняют вдвух точках.
П р и м е ч а н и я
1 При использовании спектрометров различных типов применяют различные способы измерения уровня
фона для введения поправки. При использовании спектрометров смонохроматором и большинства спектрометров
с полихроматором сначала регистрируют интенсивность спектральной линиианалита и затем регистрируютинтен
сивность фона. Однако при использовании спектрометров с полупроводниковыми детекторами происходит одно
временная регистрация сигналов фона и аналитической линии. Поэтому при использовании подобных приборов
можноодновременно вводить поправку на фон.чтоявляется предпочтительным,так как при этомдля всегоизмере
ния исключаются шумы, обусловленные системой ввода проб. Более того, одновременные измерения менее про-
должительные.таккак не требуетсядополнительного временидля проведения измерений вне спектральной линии
аналита.
2 Программноеобеспечениедля некоторыхАЭС ИСП спектрометров предусматривает применение принци
повхемометриидля автоматического выборапараметров, такихкаквыбор точек введения поправки на фон, атакже
для осуществления программируемой оптимизации без вмешательства пользователя.
8.1.8 Поправка на межэлемонтноо влияние
8.1.8.1Если на выбранную(ые) для определения металла или металлоида аналитическую(ие)
линию(и)накладываютсяспектральныепомехи или наблюдаетсясложное изменение фона, то рассмат
риваютнеобходимостьвведенияпоправкинамежэлементиое влияние (см.8.1.3). Если онанеобходима,
то вычисляют и применяют поправочные коэффициенты для учета мешающего влияния (см. примеча
ние 1). Вкачествеальтернативы, если установлено необходимоепрограммноеобеспечение, длявведе
ния поправки на межэлементиое влияние можно использовать принципы хемометрии (см. при
мечание 2).
П р и м е ч а н и я
1 Поправочные коэффициенты для учета межэлементного влияния можно вычислить на основе кажущихся
концентраций аналита, полученных при анализе индивидуальных спектрально чистых контрольных растворов,
содержащих каждое мешающее вещество в высокой концентрации (например. 10000 мг/л). Поправочные коэффи
циенты для учета мешающего влияния могут быть также вычислены и применены автоматическис использованием
программного обеспечения для обработки данных, установленного на некоторых спектрометрах, если градуиро
вочные растворы содержат элемент и мешающие элементы в различных массовых концентрациях.
13