Примечание. В качестве линии сравнения допускается использовать линию А1 257,5 нм.

для навески анализируемого материала:

з

2 S'ik

S_k'=— --(первая серия спектров);

3

з

2 s"ik

5_а"=----(вторая серия спектров/.

Аналогичным образом вычисляют AS.

1.7. Обработка результатов измерений

Обработку результатов измерений выполняют по следующей схеме:    __

1.7.1. Вычисляют средние значения абсолютных (S) или относительных (AS) почернений соответствующих спектральных линий в спектрах стандартного образца и навески анализируемого» материала по формулам:

для стандартного образца на одной фотопластинке

3

2 s_ico

S_c0——-—-- (одна серия спектров)    ;

О

6

2 Sico

S_c0=—¹- (две серии спектров),

6

где Si — абсолютное почернение спектральной линии, в каждом¹, спектре.    ь;

1.7.2.    Для каждой фотопластинки через_точку, соответствующую координатам стандартного образца (Sсо, ASco; lgCco), проводят прямую, параллельную постоянному градуировочному графику — рабочий график. Для каждого определяемого компонента проводят свой рабочий график.

1.7.3.    Массовую долю (СД) каждого компонента определяют по соответствующему рабочему графику следующим образом:

по (или ASj.) находят С\,

по S"h (или AS"h) находят С"_!:, если |С\—С'\ | sSidg,

где d_g—-раз-мах результатов параллельных определений.,

3*