ГОСТ Р 57394—2017
3.1.2 отбраковочные испытания: Испытания, выполняемые на стадии производства в целях вы
явления и изъятия дефектных изделий.
3.1.3 коэф ф ициент ускорения: Отношение продолжительности нормальных испытаний на без
отказность к продолжительности аналогичных испытаний в форсированном режиме.
3.1.4 ускоряющ ий ф актор: Параметр режима, увеличение которого приводит к интенсификации
процессов, способных вызывать отказ.
3.1.5 область допустимого ф орсирования: Совокупность максимально возможных режимов
ускоренных испытаний на безотказность (температура, ток, напряжение), при которых еще выполняет ся
требование об отсутствии отказов по нормам ТУ.
3.1.6 параметр— критерий годности: Параметр изделия, контролируемый при проведении ис
пытаний конкретных видов, по значению или изменению значения которого изделие считают годным или
дефектным.
3.1.7 представительство заказчика: Представительство Министерства обороны Российской Фе
дерации или представительство другого государственного заказчика оборонной продукции на предпри
ятии (в организации).
3.2 В настоящем стандарте приняты следующие сокращения:
БИС — большая интегральная микросхема;
ДИБ — длительные испытания на безотказность;
И2Л — интегральная инжекционная логика (структура):
КИБ — кратковременные испытания на безотказность;
КМОП — комплиментарный металл-оксид-полупроводник (структура);
КТЗ — конструктивно-технологические запасы.
МДП — металл-диэлектрик-лолупроводник (структура):
МОП — металл-оксид-полупроводник (структура);
ОДФ — область допустимого форсирования;
ОИ — отбраковочные испытания;
ПЗ — представительство заказчика;
ПЗС — прибор с зарядовой связью;
ПЗУ — постоянное запоминающее устройство;
ПКГ — параметр—критерий годности.
ППЗУ — программируемое постоянное запоминающее устройство;
ПУКИБ — УКИБ по проверке форсированного режима:
РПЗУ — репрограммируомое постоянное запоминающее устройство;
СБИС — сверхбольшая интегральная микросхема;
ТТЛ — транзисторно-транзисторная логика (структура);
ТУ — технические условия на изделия конкретных типов;
УИБ — ускоренные испытания на безотказность;
УДИБ — ускоренные длительные испытания на безотказность;
УКИБ — ускоренные кратковременные испытания на безотказность;
ЭСЛ — эмиттерно-связанная логика (структура).
р-МОП — металл-оксид-полупроводник с каналом проводимости д-типа (структура);
л-МОП — металл-оксид-полупроводник с каналом проводимости л-типа (структура);
Р‘ — доверительная вероятность.
4 Общие положения
4.1Контрольные испытания на безотказность включают в себя кратковременные и длительные
испытания на безотказность.
2