ГОСТ Р 57394—2017
Окончание таблицы 1
Группа
интегральных микросхем
Значение обобщенной энергии активации при различных температурах
кристалла (перехода). эВ
е *
2S-70 ’С
71-150 "С
151-200 ’С
201-250 *С
Биполярные цифровые на л-МОП
структурах. ПЗС
0.35
0.55
0.65
0,75
Биполярные цифровые. И2Л
0.4
0.6
0.7
0.8
КМОП 2 1,0 мкм
0,45
0.65
0.8
0.9
КМОП 1.0-0.5 мкм
0.55
0.75
—
—
КМОП 0.5—0.09 мкм
0.6
0.8
—
—
Аналоговые
0.45
0.65
0.8
0.9
5.10 При обобщении материалов испытаний изделий используют результаты нормальных и уско
ренных КИБ и ДИБ. и испытаний по проверке КТЗ. а также результаты анализа отказов изделий по
признанным рекламациям. При этом отказы из-за грубых производственных дефектов, ошибок опера
торов. нарушений работы испытательного оборудования не учитывают.
Обобщение результатов испытаний проводят по форме, приведенной в приложении И. Для повы
шения информативности рекомендуется обобщение проводить не только по нормам ТУ. но и по более
жестким (условным) нормам.
5.10.1 Выбор условных норм на ПКГ проводят по действующим нормативным документам, пред
усматривая установление более жестких норм на ПКГ при УИБ.
При использовании условных норм рекомендуется вводить более жесткие нормы на изменение
ПКГ относительно начального значения (например, на 20— 30 % для изменения коэффициента пере
дачи тока биполярного транзистора в режиме малого сигнала ДЛ21э, изменения крутизны
характеристи ки полевого транзистора AS. изменения добротности варикапа ДО), а также ужесточать
(уменьшать и (или) увеличивать) по сравнению с ТУ нормы на абсолютное значение параметров так.
чтобы сократить запас относительно реального распределения параметра (например, не более чем на
порядок по об ратным токам и токам утечки — для диодов, тиристоров и транзисторов).
Условные нормы на ПКГ выбирают так, чтобы перед началом испытаний все изделия соответство
вали этим нормам.
5.11 Контроль ПКГ изделий при УИБ проводят в режимах и условиях, указанных в ТУ для нормаль
ных испытаний на безотказность. Контроль ПКГ проводят через интервалы времени, в Ку раз меньшие
интервалов, установленных в ТУ для нормальных испытаний, но не чаще 1 раза в 48 ч.
Режим УИБ изделий принимают равным предварительно выбранному режиму ускоренных испы
таний. если выполняются следующие условия:
- отказы по нормам ТУ отсутствовали при испытаниях по проверке режима в течение ty:
- число отказов по нормам ТУ после 2ty не более одного.
Число отказов при испытаниях по проверке режима и нормальных испытаниях на безотказность
по условным нормам для ПКГ не должно превышать 10 % от объема выборки.
В состав критериев годности могут быть включены дополнительные параметры и другие харак
теристики. необходимые для проведения ускоренной оценки безотказности, что устанавливают в про
грамме и методике испытаний.
5.11.1 Выбор дополнительных параметров (характеристик) проводят из числа параметров, ко
торые при УИБ могут полнее выявить развитие механизмов отказов (например, отклонений вольт-
амперной характеристики реального перехода от вольт-амперной характеристики идеализированно го
перехода (m-характеристики), отклонение реальной вольт-фарадной характеристики от эталонной
вольт-фарадной характеристики (CV-характеристики) и др.).
Нормы на дополнительные параметры выбирают так. чтобы перед началом испытаний все изде
лия соответствовали этим нормам.
Если решено использовать условные нормы на ПКГ и проверку дополнительных параметров, то
рекомендуется измерять их не только при УИБ. но и при КИБ. Если при КИБ проверка ПКГ по условным
6