ГОСТ Р 57394—2017
УДК 621.382:621.382.8:006.354ОКС 31.080.01
31.200
Ключевые слова: интегральные микросхемы, полупроводниковые приборы, методы ускоренных испы
таний на безотказность, кратковременные испытания, длительные испытания
Редактор С. В. Папамодова
Технический редактор В.Н. Прусакова
Корректор С. В. Смирнова
Компьютерная верстка Е.А. Кондрашовой
Сдано в набор 28.02.2017Подписано а печать 17 04 2017.Формат 60»64УлГарнитура Ариап
Уел. печ. л. 5.12Уч.-изд. л. 4,63.Тираж 32 экз.Зак 506.
Подготовлено на основе электронной версии, предоставленной разработчиком стандарта
Издано и отпечатано во ФГУП «СТАНДЛРТИНФОРМ». 123995 Москва. Гранатный пер.. 4
www gostinfo.ru
info@gostinfo.ru
ГОСТ Р 57394-20
17