ГОСТ Р 57394—2017
Н А Ц И О Н А Л Ь Н Ы ЙС Т А Н Д А Р ТР О С С И Й С К О ЙФ Е Д Е Р А Ц И И
МИКРОСХЕМЫ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ
И ПРИБОРЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ
Методы ускоренны х испы таний на безотказность
Integrated circuits and semiconductor devices. Methods of accelerated tests for no-failure operation
Дата введения — 2018—01—01
1 Область применения
Настоящий стандарт устанавливает методы ускоренных испытаний на безотказность полупрово
дниковых интегральных микросхем и полупроводниковых приборов {далее — изделий), предусматри
вающие форсирование режимов эксплуатации.
Настоящий стандарт предназначен для применения организациями, разрабатывающими, изготав
ливающими и поставляющими изделия.
2 Нормативные ссылки
В настоящем стандарте использованы ссылки на следующие стандарты:
ГОСТ 20.57.406 Изделия электронной техники, квантовой электроники и электротехнические. Ме
тоды испытаний
ГОСТ 27.002 Надежность в технике. Термины и определения
ГОСТ 16504 Система государственных испытаний продукции. Испытания и контроль качества про
дукции. Основные термины и определения
ГОСТ 18725 Микросхемы интегральные. Общие технические условия
П р и м е ч а н и е — При пользовании настоящим стандартом целесообразно проверить действие ссылочных
стандартов в информационной системе общего пользования — на официальном сайте Федерального агентства по
техническому регулированию и метрологии в сети Интернет или по ежегодному информационному указателю «На
циональные стандарты», который опубликован по состоянию на 1 января текущего года, и по выпускам ежемесяч ного
информационного указателя «Национальные стандарты» за текущий год. Если заменен ссылочный стандарт, на
который дана недатированная ссылка, то рекомендуется использовать действующую версию этого стандарта с
учетом всех внесенных в данную версию изменений. Если заменен ссылочный стандарт, на который дана дати
рованная ссылка, го рекомендуется использовать версию этого стандарта с указанным выше годом утверждения
(принятия). Если после утверждения настоящего стандарта в ссылочный стандарт, на который дана датированная
ссылка, внесено изменение, затрагивающее положение, на которое дана ссылка, то это положение рекомендуется
применять без учета данного изменения. Если ссылочный стандарт отменен без замены, то положение, в котором
дана ссылка на него, рекомендуется применять в части, не затрагивающей эту ссылку.
3 Термины, определения и сокращения
3.1 В настоящем стандарте применены термины по ГОСТ 27.002. ГОСТ 16504. а также следующие
термины с соответствующими определениями:
3.1.1 новые испытания: Испытания вновь изготовленных изделий после проведения мероприя
тий по устранению причин возникновения дефектов.
Издание официальное
1