ГОСТ Р 57394—2017
Приложение Е
(рекомендуемое)
Определение значения энергии активации по результатам испытаний
со ступенчато-возрастающ ей нагрузкой
Е.1 Испытания для определения значения энергии активации проводят на одной или нескольких выборках
при постоянной электрической нагрузке со ступенчато изменяющейся температурой окружающей среды.
Е.2 Объем выборки должен быть не менее 20 шт.
Е.З Испытания проводят при изменяющейся ступенями температуре окружающей среды, начиная с повы
шенной температуры среды при эксплуатации, установленной в ТУ. или на 5— 10 °С выше. Величину ступени реко
мендуется выбирать равной 10— 15 °С.
Е.4 Электрический режим для испытаний устанавливается равным предельнодопустимому режиму, установ
ленному в ТУ для испытаний на безотказность.
Допускается для ступенчатого повышения температуры кристалла (перехода) ужесточить электрический ре
жим на второй и последующих ступенях, если ужесточение режима приводит к увеличению рассеиваемой мощно
сти и увеличению температуры кристалла (перехода) и не приводит к развитию механизмов отказов, существенно
ускоряемых напряжением или током.
Е.5 Длительность испытаний на каждой ступени должна быть не менее 24 ч. На начальных ступенях реко
мендуется устанавливать длительность испытаний 96 ч.
Е.6 После каждой ступени измеряют ПКГ. Возможно измерение дополнительных параметров, не указанных в
ТУ. и проведение оценки результатов испытаний по условным нормам.
Е.7 При наличии на любой ступени двух и более отказов приращение температуры окружающей среды (кри
сталла) для следующей ступени должно быть уменьшено в 1.5—2 раза.
Е.8 Испытания продолжают до получения отказов из-за изменения параметров.
Е.9 Обработку результатов испытаний проводят в следующем порядке.
Е.9.1 На каждой ступени испытаний определяют накопленное число отказов по формуле (Е.1) и накопленную
долю отказов по формуле (Е.2).
где— верхняя доверительная граница накопленного числа отказов при доверительной вероятности Р = 0.6
(определяется по таблице Е.1):
л — обьем выборки.
Е.9.2 Для каждой ступени испытаний определяют величину
(Е.1)
гдеdj — накопленное число отказов при испытаниях с 1-ой по мо ступень включительно:
/’— число ступеней в обобщении результатов испытаний,
dj — число отказов на /ступени.
(Е.2)
(Е.З)
где Ггтя1и T ^ j— температура кристалла (перехода) при испытаниях на 1-й и йй ступенях. °С.
Результаты расчетов по Е.9.1 и Е.9.2 заносят в таблицу Е.1.
22