ГОСТ ISO 22036—2014
Продолжение таблицы В. 1
Элемент
Сдвиг фона
элемент
Л,
Перекрытие спектров
кмМешающий
Описание помех
элемент
Мешающий
Описание помех
элемент
Низкое разрешение: возможные
помехи
Мешающий
Описание помех
Сг
AI, Са. V
Малый СФ
Сг
Линия вблизи
403.113 нм
Fe
Мп403.075
Мо
Линия на 402.994
нм
Мо
V
Линия вблизи
403.122нм
п
Частичное
перекрытие с
пинией Сг 403.068
нм
Частичное
перекрытие с
линией Fe 403.049
нм
Частичное
перекрытие с
пинией Мо line (?)
Частичное
перекрытие с
пинией Т! 403.051
нм
NI221.647
Fe
СФ.
обусловленный
линиями на
221.706 нм и
около 221.6 нм 2
V
Линия на 221.603
нм
А1. Са. Сг.
Си. Мд. Мп.
TI.V
СФ
NI231.604
Fe
СФ.
обусловленный
линиями на
231.485 нм и
231.738 нм
V
Линия на 231.563
нм
AI, Са. Си.
Мд. Мп. TI.
V
СФ
NI232.003
Сг
Совпадение с
пинией Сг 232.008
нм
Fe
Сильный СФ.
обусловленный
линиями на
232,031 нм
(возможное
перектытие
крыльев
спектральныхМп
линий (wing
overlap) и 231.854
нм
Линия на 232.045
нм
V
Частичное
перекрытие с
линией V 232.016
нм
AI. Са. Мд.
Мп. TI
СФ
РЬ216.099
Fe
нм
Сг. Fe. Мд.
Fe
Линия на 217.019
нм
Мо
Си
Мо
Линия на 216.951
нм
Ni
V
Совпадение с
А1. Са. Со.
линией Fe 216.995
Мп.
TI. V.
Сильный СФ
2п
Частичное
перекрытие с
линией Мо 217.02
нм (?)
ЧастичноеСпад СФ.
перекрытие с обусловленный
линией N1216.961линией на 216.953
НМ нм
Частичное
перекрытие с
линией V 216.985
нм and V 217.007 нм
19