ГОСТ ISO 22036—2014
Продолжение таблицы В. 1
Элемент
Сдвиг фона
элемент
А,
Перекрытие спектров
НММешающий
Описание помех
элемент
Мешающий
Описание помех
элемент
Низкое разрешение: возможные
помехи
Мешающий
Описание помех
Со238.892Fe
Са. Сг. Си.
Mg, Мп. Ti
Слабый СФ
NI
V
Частичное
перекрытие с
линией Fe 238.863
нм
Совпадение с
линией NI 238.892
нм
Совпадение с
линией V 238.892
нм
Сг205.552Мо
СФ.
Fe обусловленный
линией 205.529 нм
NI
Частичное
перекрытие с
линией Мо 205.567
нм
Частичное
перекрытие с
линией NI 205.550
нм
Al, Са. Мд.
Мп. Ti. V
СФ
Сг206.1492п
Частичное
перекрытие с
линией 2п 206,200
нм
AJ. Са. Fe.
Мд. Ti. V
Слабый СФ
Сг267.716Мп
Частичное
перекрытие с
линией Мп 267.725
нм
Мо
Пинии на 267,611
Feнм, 267.688 нм и
267.805 нм
V
СФ и перектытие
крыльев
спектральных
линий (wing
overlap),
обусловленные
линией на 267.648
нм
Спад СФ.
обусловленный
линией на 267.780
нм
СФ
Си224.700
нм
Al. Са. Мд.
Al. Са. Fe.
Мд. Nl. Ti
Совпадение с
Feлинией Fe 224.691
Мп. NI. V
СФFe
Линии на 224.746
нм и 224.769 нм
л
Перекрытие линий 2
Ni
Линия вблизи
224.723 нм 2
Си224.700
нм
СФFe
Линии на 224,746
нм и 224.769 нм
Совпадение с
Feлинией Fe 224.691
AI. Са. Мд.
Мп. NI. V
TIПерекрытие линий 2
Ni
Си324.754
Са. Fe. Мп.
TI. V
СФ
Fe
Cr
V
Линия вблизи
224.723 нм 2
Wma overlap с
линиями на 324.696
нм. 324.717 нм и
324,739 нм: пиния
на 324.821 нм
Wma overlap с
линией на 324.727
нм (при 500 мг/л)
Линия на примерно
324.72 нм 2
17