ГОСТ ISO 22036—2014
Приложение В
(справочное)
Помехи
Данные о помехах приведены в таблицах В.1 - В.З.
Для получения данных в таблицах В.1 и В.2, использовался прибор Perfcin-Elmer Optima 3000 со
спектральным разрешением 0,006 нм при длине волны 200 нм. Совпадения линий, которые зависят от
спектрального разрешения спектрометра, становятся значимыми только тогда, когда концентрация мешающих
элементов и определяемого элемента достигает критического уровня.
Данные, приведенные в таблице В.З. как эквиваленты концентраций анализируемого элемента, были
получены на приборе Varian Vista-PRO при стандартных условиях с осевой (аксиальной) плазмой. Каждая
лаборатория должна определять эти цифры, по мере необходимости, для конкретного применения метода, так
как на помехи влияет выбор коррекции фона, и они. в значительной степени, зависят от условий эксплуатации и
положения плазмы.
Таблица В.1 - Спектральные помехи
Элемент A.
HM
Наложение спектров
Сдвиг фона
элемент
Мешающий
Описание помех
элемент
Мешающий
Описание помех
элемент
Низкое разрешение
возможные помехи
Мешающий
Описание помех
AI
Fe
Линия на 193.663
нм
As193.696
V
Спад СФ
Сильный СФ.
обусловленный
линией на 193.68 нм
As197.197
Са. Mq. Ti
Cr. Fe. Мл. Mo
AI. Ca. Mq
Cr. Cu. Fe. Mo,
Tl. V
Сильный СФ
СФ
Сильный СФ
СФ
Cd214,438Fe
Совпадение с
линией Fe
214.445 нм
Ca. Cr. Cu. Nl
Слабый СФ
As
Fe
Mo
Tl
V
Линия на 214,410
нм
Линии на 214.390
нм и 214.519 нм
Линия на 214.407
нм
Линии на 214.361
нм и 214.390 нм
Линия на 214.3/1
нм
Cd226.502
Fe
Совладение с
линией Fe
226.505 нм
Nl
Сильный СФ.
обусловленный
линиями на 226.446
нм и 226.535 нм
Fe
Линии на 226.439
нм. 226.459 нм и
226.599 нм
И
Частичное
перекрытие с
линией Tl
226.514 нм
AI. As. Ca
Слабый СФ
Mo
Линия на 226.474
нм
Частичное
перекрытие с
Cd 228.802 As линией As
228.812 нм
Nl
СФ. обусловленный
линиями на 228.765
нм и 228.839 нм
Fe
Линия на 228.763
нм
Ca. Mq. Tl. V
СФ
Ni
Совпадение с
линией N12
СФ
Co228.616
Tl
Совпадение с
линией Tl
228.618 км
Cr
Al. Ca. Cu. Fe.
Mq. Mn. Tl. V
СФ. обуслозленный
близко
расположенными
ЛИНИЯМИ
Co230.786Ni
Частичное
перекрытие с
линией NI
230,779 нм
AI. Ca. Cr. Cu.
Mg. Mn. Ti. V
СФ
Cr
Линия на 230.72
нм
Fe
Спад СФ.
обусловленный
линией на 230.731
нм
Nl
Линия на 230.817
нм
16