ГОСТ ISO 22036—2014
Продолжение таблицы В. 1
Элемент
Сдвиг фона
элемент
А.
Перекрытие спе»стров
нмМешающий
Описание помех
элемент
Мешающий
Описание помех
элемент
Низкое разрешение, возможные
помехи
Мешающий
Описание помех
Си327.396
А1, Сг. Мд.
Мп. TI. V
СФ
Са
Fe
Tl
V
Мп257.610
Со. Fe
Слабый СФ
AI
Сг
Fe
V
Wng overlap with
line at 327.396 нм
(at 500 mgri)
Линия вблизи
327.445 нм
Wno overlao c
линией на 327.405
нм,линия на
327.529 нм (при 500
мп’л)
Линии на примерно
327.42 нм и 327.44
нм ’
Линия на 257.510
нм
Линия на 257.580
нм
Линия на 257.574
нм
Линия на 257.729
нм
Со
Fe
СФ
Со
Линия на 260.612
нм
Мп260.568
Сг
Fe
Линии на 260,565
нм и 260,542 нм
Мо
Совпадение с
линией Со 260.568
нм
Совпадение с
линией Сг 260.561
нм
Частичное
перекрытие с
линией Мо 260,593
нм
Tl
Линия на 260.515
нм
Мд
Совладение с
линией Мд 279.553
нм
Са
Спад СФ.
обусловленный
линией на
примерно 279.55
нм2
Mo
Линии на примерно
279.53 нм 2 и 279.55
нм 2
Мп279.482
Мо
Частичное
перекрытие с
линией Мо 279.457
нм
Со. Сг. Мо,
Ti
СФ
V
Линия на 279.430
нм
V
Совпадение с
линией V 279.483
нм
Fe
СФ.
обусловленный
линиями на
279.470 нм.
279.500 нм и
279.554 нм
Сг
Сг, Мд. Мо.
Ti
СФ
V
Линия на 294.963
нм
Fe
Мп294.92
Мо
V
Частичное
перекрытие с
линией Сг 294.944
нм
Совпадение с
линией Fe 294.921
нм
Частичное
перекрытие с
линией Мо 2
Совпадение с
линией V 294.917
нм
18