ГОСТ ISO/TS 10993-19-2011
Таблица 1 - Методологические сокращения
Сокращение
Аналитический метод
ОЭМ
Оже электронная спектроскопия, включая туннельный оже
АСМ/СЗМАтомно-силовая микроскопия/Сканирующая зондовая микроскопия,
включая топографическую неоднородность и фазовый контраст
БЭТБруно-Эммет-Тэллер, метод измерения пористости
клсмКонфокальная лазерная сканирующая микроскопия
ДМТАДинамический механотермический анализ
декДифференциальная сканирующая калориметрия
ЭЗМАЭлектронный зондовый микроанализ
РСРРавновесное содержание растворителя
РСВРавновесное содержание воды
ЭДРА-СЭМ Энерго-дисперсионныйрентгеновскийанализ-сканирующая
электронная микроскопия
ФИКС ФурьеИК-спектроскопия,включаямикроскопию,получение
изображения и диффузное отражение
ФИКС-Фурье ИК-спектроскопия многократного нарушенного внутреннего
мнпво отражения
икИнфракрасная (спектроскопия)
омОптическая микроскопия
кмвКварцевые микровесы (или другие методы микровзвешивания)
сэм/эмпСканирующая электронная микроскопия/Электронная микроскопия
пропускания
ППР
Поверхностный плазмонный резонанс
вп/вимс
Время-пролетная/Вторично ионизационная масс-спектроскопия
TMA
Термомеханический анализатор
РФС/ЭСХА
Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия/Электронная
спектроскопия для химического анализа
5 Основные принципы
з