ГОСТ ISO/TS 10993-19-2011
Окончание т аблицы 2
Стандарт или
ссылка
Примеры
анализируемых
параметров
Примеры методов
(не всеобъемлющие или
единственные)
Ко-ли-
чественн
ый
Ка-
чествен-
ный
Топография
Поверхностное
химическое
картирование
X
РФС/ЭСХА
ВП-ВИМС
ФИКС/МНПВО
ФИКС микроскопия
ФИКС -имэджинг
ЭДРА-СЭМ
Раман
ЭЗМА
X
X
X
X
X
X
X
X
X
СЭМ
АСМ/СЗМ
Трибология
X
X
X
X
Шероховатость
- гладкий
- изрытый
- штрихованный
- нерегулярная
топография («холмы».
«долины»)
Профилометрия
X
ОМ
X
X
Частицы
Размер
Распределение по
размерам
Трехмерная форма
ISO 3274,(1)
ISPO 4287, (2)
ISO 4288, (3)
ISO 5436-1, (4)
ИСО 5436-2. [5]
ИСО 11562, [11]
ISO 12179. (12)
ISO 13565-1. (15)
ISO 13565-2. (16)
ISO 13565-3, (17)
ISO 18754. (22]
ISO 18757. (23)
EN 623-4, (25)
Alaerts et al., (46)
Ikada. (56)
Kajijama et al., (58)
Kumaki et al., (63)
Senshu et al., (72)
Senshu et al., (73)
Senshu et al.. (74)
ASTM F1877, (40)
ISO 13319.(13]
ISO 13320-1,(14]
ISO ЯС 13762,(18)
ISO 17853. (21)
EN 725-5, (26)
Очертание и форма
Лазерная дифракция
Анализ изображения
Фильтры (сита)
СЭМ
СЭМ
АСМ/СЗМ
ОМ
X
X
X
X
X
X
X
X
X
--
X
X
X
Набухание
РСВ
X
X
РСР
Анализ изображения
X
X
X
X
Поглощение воды
Поглощение
растворителя
Изменение формы
Поверхностная
трещина
ISO 17190-5, (20]
Moskala and
Jones(66]
Набор массы
ОМ
СЭМ
ЭМП
Микровесы
X
X
X
X
X
X
X
X
II