ГОСТ Р 57229—2016
по азимуту и датчика перемещения по высоте (датчик изменения угла наклона приемной поверхно
сти к горизонту). Во время настройки испытуемый образец должен быть установлен в соответствии с
рекомендациями изготовителя и на нем должно быть установлено оборудование, как указано в
7.2.4.
Один датчикошибки наведения должен быть установлен в наиболее вероятном месте максималь
ного отклонения плоскости приемных поверхностей (обычно в углу или на краю указанной плоскости),
см. рисунок 9. Второй датчик ошибки наведения должен быть установлен в центре плоскости
приемных поверхностей или в точке ее наименьшего отклонения.
В пределах одного часа от солнечного полудня настраивают соосность датчиков так, чтобы сиг
налы по азимуту и высоте отличались от нуля не более чем на 0,05° и показания датчиков отличались
между собой также не более чем на 0,05° (например, показания по азимуту одного из датчиков будут -
0,03°. а другого — + 0,02°).
Интервал выполнения настройки соосности выбран во время солнечного полудня, поскольку из
вестно, что векторы наведения каждого датчика могут независимо изменяться при дневных или не
дельных деформациях системы слежения за Солнцем. При настройке соосности датчиков вблизи сол
нечного полудня статистические показатели точности слежения относятся к тому времени дня, когда
энергетическая освещенность прямого солнечного излучения максимальна.
Обычно грубая настройка соосности датчиков достигается с использованием солнечного «зайчи
ка» или теней, однако точная настройка должна выполняться по электрическим сигналам датчиков,
указывающим отклонение по азимуту и высоте.
Настройка соосности с высокой точностью обычно требует установки датчиков на испытуемом
образце с использованием регулируемого трехточечного подпружиненного основания (двухточечного,
если измерения по азимуту и высоте выполняются с помощью разных устройств). Если механическая
настройка не обеспечивает получения соосности в пределах 0,05° от нуля, тогда требуемая коррекция
смещения может быть внесена системой сбора данных или коррекцией смещения для всего набора
данных.
Смещения показателей должны быть определены в начале испытаний, и последующие различия
в показаниях датчиков должны рассматриваться как фактическая ошибка наведения.
Для определения смещения, которое будет учитываться для каждого датчика на протяжении все
го периода сбора данных, используются данные за 15-минутный интервал с чистым небом после за
вершения процедуры настройки соосности. Данные за этот 15-минутный интервал от обоих датчиков
наносятся на один график, который прикладывается к протоколу испытаний.
Смещение данных также указывается в протоколе испытаний.
7.2.4 Проведение испытания
Испытуемый образец устанавливают в соответствии с рекомендациями изготовителя.
Устанавливают на испытуемом образце максимально допустимую паспортную нагрузку (оборудо
вание. на установку которого рассчитан испытуемый образец) с отклонением удельного веса и положе
ния центра тяжести от указанных изготовителем значений в пределах ± 20 %.
Испытание проводят с установленными фотоэлектрическими модулями либо с набором грузов,
представляющих массу, распределение масс и ветровое сопротивление этих фотоэлектрических мо
дулей.
Вес нагрузки, центр тяжести, количество фотоэлектрических модулей (грузов) и промежутки меж
ду ними должны быть указаны в протоколе испытаний, также к протоколудолжна быть приложена фото
графия полностью подготовленного испытуемого образца перед началом испытаний с установленной
нагрузкой.
Проекция мгновенной ошибки наведения на измерительную плоскость может быть получена с ис
пользованием двух плоских параллельных панелей, которые размещают на заданном расстоянии одна
от другой над плоскостью приемной поверхности фотоэлектрического модуля и параллельно ей. В од
ной из панелей делают прокол для получения проекции положения направления на Солнце (см. рису нок
10). При слежении проекция направления на Солнце попадает в кольца определенных диаметров,
соответствующих точностям 0.1:0,2 и 0,3 (и более, если необходимо).
Устройство с проколом является лишь одним из способов получения проекции мгновенной ошиб
ки наведения на измерительную поверхность, в равной степени также применимы оптические и иные
способы.
23