ГОСТ Р 57229—2016
- иных повреждений, которые могут повлиять на работоспособность, рабочие характеристики или
безопасность.
Печатные платы осматривают с 40-кратным увеличением.
Описывают и/или фотографируют состояние и положение всех обнаруженных повреждений.
При проведении визуального контроля после испытаний описывают все случаи ухудшения или
изменения состояния испытуемого образца.
Устраняют повреждения, которые можно устранить, например затягивают болты и т. п., в соответ
ствии с инструкциями изготовителя.
Описания обнаруженных повреждений должны быть включены в протокол испытаний вместе с со
ответствующими рисунками и фотографиями, характеризующими их состояние и расположение.
7.1.3 Видимые функциональные повреждения
К видимым функциональным повреждениям относятся следующие повреждения испытуемых об
разцов:
- наличие влаги на частях под напряжением или обмотках, не предназначенных для работы в
сырых условиях;
- повреждение или ослабление электрических соединений;
- наличие оголенных частей под напряжением или оголенных токоведущих проводников или су
щественного повреждения их изоляции;
- наличие трещин, которые нарушают прочность конструкции или могут представлять опасность
для персонала, выполняющего работы около испытуемого образца.
Также к видимым функциональным повреждениям электронного оборудования относятся:
- трещины паяных соединений или отделение компонентов;
- расслоение печатных плат:
- трещины компонентов на печатных платах;
- дефекты, которые представляют угрозу безопасности:
- дефекты, которые снижают нормальную работоспособность.
7.2 Определение мгновенной ошибки наведения
7.2.1 Назначение испытаний
Испытание предназначено для определения фактической мгновенной ошибки наведения систем
слежения за Солнцем.
Ошибка наведения должна быть измерена непосредственно (а не теоретически рассчитана по мо
дели системы слежения за Солнцем или по значениям, предоставляемым блоком управления системы
слежения за Солнцем).
Полученная в результате испытания мгновенная ошибка наведения относится к системе слеже
ния за Солнцем в целом, включая механические компоненты и электронную систему управления. Если
какой-либо из компонентов системы слежения за Солнцем был изменен и есть основания полагать, что
это изменение может повлиять на характеристики точности системы слежения за Солнцем, измерение
мгновенной ошибки наведения следует повторить и привести паспортные характеристики точности си
стемы слежения за Солнцем в соответствие с новыми значениями.
7.2.2 Калибровка устройства измерения ошибки наведения
Точность устройства для измерения ошибки наведения (фотодиод, фотокамера или иной датчик)
должна не менее чем в три раза превышать точность испытуемого образца. Например, если для испы
туемого образца указана точность 0.06°. то измерительное устройство должно быть калибровано и по
верено на точность 0.02° или выше. Указанная точность требуется толькодля поля зрения испытуемого
образца. Например, датчик ошибки наведения может иметь поле видимости ± 3°. и у него может быть
точность ± 0.02° в поле видимости ± 1° и точность ± 0,06° в полном поле видимости ± 3°. Если поле ви
димости испытуемого образца ± 1°, а точность 0,06°, то точность датчика ± 0.02° является достаточной.
Калибровка должна проводиться либо при естественном солнечном освещении, либо при искусствен
ном освещении при энергетической освещенности не менее 100 Вт/м2и расходимости лучей не более 1°.
Во время калибровки должна быть проверена точность в не менее чем 10 различных положениях
Солнца (в диапазоне от центра до края поля видимости датчика).
7.2.3 Настройка соосности датчиков
Настройку соосности датчиков ошибки наведения выполняют при перемещении испытуемого об разца
с установленными на нем датчиками за Солнцем, наблюдая за сигналами датчика перемещения
22