ГОСТ I*51884-2002
В.8.7.1 Испытание базовыхблоков па пульсации/шум при статической нагрузке
Пульсации/шум источника питания при статической нагрузке —это максимальные периоди
ческие и случайные отклонения напряжения в источнике питания при какой-то определенной ста
тической нагрузке, как это принято для источников питания. Используя осциллограф с полосой
пропускания 10 МГц, следует измерить размах переменного напряжения каждого источника пита
ния. изменяя статическую нагрузку от нуля до пикового значения тока базового блока (/МР). Наи
большее измеренное значение является характеристикой пульсаций/шума источника питания при
статической нагрузке. Пробник осциллографа следует подсоединять к объединительной плате спо
собом. общепринятым при работе с высокочастотными схемами, т. е. используя для подсоединения
очень короткие проводники.
В.8.7.2 Испытание базовых блоков на наведенные пульсации/шум
Испытание на наведенные пульсации/шум требует использования нагрузки, обеспечивающей
максимально допустимый динамический выходной ток базового блока (рисунок В.43). и одновре
менного наблюдения за напряжением источника питания, чтобы удостовериться, что суммарное
напряжение пульсаций наведенной помехи и помехи при статической нагрузке не превышают зна
чений. указанных на рисунке В.44.
Устанавливают на источник питания статическую нагрузку, равную половине допустимого
тока (1/2 /МР). При низкочастотных испытаниях (до 10 кГц) обеспечивают активную нагрузку гене
ратором низкой частоты до указанных уровней. Измеряют напряжение шума, имеющееся в сосед
нем гнезде, используя осциллограф. Суммарные пульсации/шум наведенной помехи и помехи при
статической нагрузке — это значение размаха переменной составляющей. При высокочастотных
испытаниях на помехи проводимости возбуждают нагрузку следящим осциллографом и одновре
менно наблюдают за наведенным напряжением в соседнем гнезде, используя анализатор спектра.
В.8.7.3 Испытаниемодулей па помехи проводимости
При измерениидинамического тока модуля должно быть полностью исключено влияние базо
вого блока. Гак как базовый блок питает оконечные нагрузки объединительной платы, таймеры и
другие устройства, потребляющие динамический ток. на контактах питания могут быть
пульсации напряжения с различными частотами. Напряжение этих пульсаций источника питания
может выз вать через модуль значительный динамический ток. который не вызывается какими-либо
потребно стями самого модуля. Этот ток не следует включать в качестве составляющей
собственного динами ческого тока модуля. Подача напряжения на испытуемый модуль от
независимых источников изоли рует создаваемые базовым блоком пульсации от необходимого
модулю динамического тока.
Испытуемый модуль должен работать в своей наихудшей точке зависимости тока от частоты.
Для измерения переменной составляющей нагрузки источника питания используют датчик
тока, подключаемый последовательно с каждым источником питания модуля. Соответствие требо
ваниям по помехам проводимости на низких частотах (до 10 кГц) проверяют осциллографом. Для
измерения составляющей тока на более высоких частотах используют анализатор спектра. Выбирают
режимы работы модуля, позволяющие найти максимальные показания приборов.
Данное испытание следует проводить с использованием объединительной платы, выходной
контакт питания которой, зашунтированный в измеряемом гнезде конденсатором емкостью не ме
нее 0,1 мкФ. имеет сопротивление не более 0,2 4 rs//s, где Vs —уровень напряжения восприимчи
вости модуля (рисунок В.46). a /s —уровень тока проводимости модуля (рисунок В.45).
В.8.7.4 Испытаниемодулей на восприимчивость к помехам проводимости
Индуцирует напряжение между выходом каждого источника питания на объединительной плате
и модулем, равное максимальному напряжению, указанному на рисунке В.44. Индуцированное
напряжение измеряют между контактом питания модуля и контактом заземления. Определяют те
частоты, на которых эксплуатационные характеристики модуля ухудшаются из-за наведенных
по мех. При испытаниях на низких частотах используют последовательно включенный резистор,
на котором с помощью активной схемы индуцируется напряжение указанного уровня. На
высоких частотах следует использовать пробники тока, соответствующие диапазону частот
испытания. Необ ходимо убедиться, что пробник тока рассчитан на постоянный ток.
потребляемый модулем.
В.8.7.5 Испытаниемодулей на магнитные помехи ближнего поля
Для измерения магнитных помех ближнего поля, изучаемых модулем, используются магнит
ный пробник ближнего поля и анализаторы спектра, перекрывающие диапазон частот, указанный
на рисунке В.47 или В.48. Для полного перекрытия частотного диапазона может потребоваться не
сколько пробников и анализаторов. Необходимо, чтобы используемые пробники имели
калибро-
72