ГОСТ Р 56219— 2014
Для изобарических мешающих влияний (например, от ,MSn на uCd) корректирующий множитель может
быть в принципе вычислен из соотношения величин сигналов для указанных изотопов. Однако, вследствие эф
фектов дискриминации масс (различный отклик по отношению к тому же самому числу ионов различных масс)
рекомендуется
использовать
следующую процедуру для проведения
f.
Для однозначного определения какой мешающий (родительский) элемент вызывает мешающее влияние и
подгонки значений корректирующего множителя следует приготовить растворы
для оценивания мешающего
влияния таким образом, чтобы они одновременно не содержали элв
1
<юнты. влияющие
на определенный ана-
лит (один и тот же изотоп или иные изотопы). Например. Na (который оказывает мешающее влияние на с’Си за
счет <uAri,sNa) нельзя смешивать с кальцием (который оказывает мешающее влияние на “ Си за счет 45Са гО’Н).
Всего требуется семь растворов ICS для выполнения этого требования (таблица ДА.1).
В таблице ДА.1 приведен пример набора растворов ICS. Точный состав этих растворов (элементы и кон
центрации) должен соотноситься с типом анализируемой пробы. Могут быть добавлены другие мешающие ком
поненты. например редкоземельные элементы, при условии, что они не нарушают упомянутое выше требование. Na
в растворе ICS4 может быть исключен (за счет добавления HCI вместо NaCI) в зависимости от типа пробы,
поскольку присутствие Na влияет на скорость образования многоатомных ионов на основе хлора и. как след
ствие. на значение корректирующего множителя /.
К раствору ICS4 могут быть добавлены друтие компоненты (см. таблицу ДА.1). такие как магний и кальций
(соответствие матриц - по ДА.3.5.1).
Т а б л и ц а ДА.1 - Пример состава набора растворов для проверки мешающих влияний
РастворМешающий элемент’1
Массовая
концентра
ция
Изотоп, подвержен
ный мешающему
влиянию
Изотоп аналига. при-
меняемый для кор
рекции 1,1
ICS1
Мд
50 мг/дм1
ICS2Са
200 мг/дм’
Мо
ICS3S
50 мкг/дм1
200 мг/дм4
ICS4CI (в виде NaCI)
500 мг/дм’
“Т еT F e )
“’Zn. ““Zn “ Zn
“’Си“’Си
"Fe (*Fe)
’"Ni. -Ni.-’Ni
-
~Zn “’Zn
“’Cu “’Си
“ Se Г э ё )
” C d -,i4Cd
"Т Г auri 4’Ti
HiZn. bbZn “ Zn
“ Cu“JCu
"Se( Se)
- \j
-
"Cr. "C r
-
’A s
-
"Se( Se)
Si
20 мг/дм’’
Mq (нитрат)м
ICS5Fe
Br
Ва
10 мг/дм’
10 мг/дм’
10 мг/дм’
1 мг/дм’
’P
-
"Sc
-
"Zn №Zn
"C a. "Ca
-
"Ni
“"RS "Se
T s ij
“’Cu“’Си
“ Zn - “ Znb4Zn
-
-
Sr
ICS6С
2 мг/дм1
500 мг/дм1
Na
Sn
ICS7Ti
20 мг/дм1
20 мкг/дм’
1 мг/дм1
О
c
о
c
4:Sc
-
“ Cr SJCr
°’Cu “ Cu
’Cd. 1"CdT ’ Cdl
-
“’Zn. "Zn“’Zn
л’ См.
таблицу ДБ. 1(приложение ДБ).
В| Изотопы
в
скобках подходят в меньшей степени для коррекции при расчете
корректирующего множи
теля (
вследствие низкой чувствительности, высокого фона и т. д.
с: Для
обеспечения
соответствия матриц
(ДА.3.5.1. приложениеДА).
ДА.З Неспектральные мешающие влияния
ДА.3.1 Неспектральные мешающие влияния, обычно называемые матричными эффектами, возникают в
процессе распыления, в плазме и в области интерфейса и линз. Эти типы мешающих влияний включают также
блокирование распылителя, инжекторной трубки у горелки и конуса семплера, вызванные высокими концентра-
18