ГОСТ Р МЭК 61508-2— 2012
q)В перечислениях а)— р) представлен перечень источников общих причин, характерных для ИС
с избыточностью на кристалле. В настоящем стандарте будут рассмотрены другие соответствующие
источники общих причин.
П р и м е ч а н и е — В целом вышеупомянутые требования ограничивают использование избыточности
на кристалле для ИС. разработанных для полностью или неполностью специализированных ИС. таких как СИС,
микроконтроллеров или других специализированных систем на кристалле. Другие разработки, такие как вентиль
ная матрица, вентильная матрица, программируемая заказчиком (FPGA) и т. д.. могут не соответствовать всем
требованиям.
Использование ИС с избыточностью на кристалле, как описано выше, должно быть разрешено, если только был
проведен полный анализ общих причин (АОП). Этот анализ должен охватывать полный спектр возможных отказов по
обшей причине, появляющихся в результате проектирования, производства, сборки, а также процедурных факторов и
условий окружающей среды. В частности, необходимо специально исследовать проблему нарушения физического
разделения между каналами из-за использования ИС с избыточностью на кристалле. Окончательное значение УПБ,
назначаемое Э/Э/ПЭ системе, связанной с безопасностью, должно зависеть от результатов этогоАОП.
П р и м е ч а н и я
1 Использование физического разделения (т. е. сегрегации) «каналов» может обеспечить защиту от широко
го диапазона отказов по общей причине в избыточных системах.
2 Предложенная методология АОП состоит из следующих этапов:
^идентификация возможных источников общей причины (ИОП). Рассмотрение влияния перечисленных
в данном приложении и других предвидимых заранее физических ИОП и логических ИОП {совместно используе
мых ресурсов и сигналов):
2) идентификация избыточных блоков в ИС, которые пострадают от ИОП;
3) формирование списка мер и их качественная оценка для обеспечения безопасности для каждого ИОП,
выявленного на этапе
1
. для каждой пары избыточных блоков, выявленных на этапе
2
;
4) получение количественных значений по таблицам Е. 1 и Е.2 для каждой пары избыточных блоков, выяв
ленных на этапе 2. и формирование оценки конкретного значения р-фактора:
5) использование определенного p-факгора в вероятностном моделировании.
Е.2 Дополнительные требования к ИС с избыточностью на кристалле для УПБ 3
ИС с избыточностью на кристалле с УПБ 3 должна соответствовать кроме перечисленных в Е.1 следующим
требованиям:
a) наличие документально оформленныхдоказательств о том. что все конкретные условия окружающей сре
ды были обеспечены в соответствии с принятыми для процессов спецификации, анализа, проверки и подтвержде
ния соответствия:
b
)определение внешних мер. которые могут обеспечить или поддержать безопасное состояние Э/Э/ПЭ систе
мы. Эти меры должны достигать, как минимум, средней эффективности (см. также А.З приложения А). Все средства,
реализованные в самих ИСдля контроля влияния систематических отказов и/ипи отказов по общей причине, должны
использовать эти внешние меры, чтобы обеспечить или поддержать безопасное состояние Э/Э/ПЭ системы.
Е.З |!-фактор
Чувствительность ИС с избыточностью на кристалле к отказам по общей причине должна оцениваться опре
делением специального для ИС с избыточностью на кристалле p-фактора рис [см. также Е.1, перечисление i)J. Его
оценка должна проводиться следующим образом:
a) базовый P-фактор. обозначенный Рв.^О составляет 33 %:
b
) увеличение базового p-фактора Рв.ис при проектировании выполняется в соответствии с таблицей Е.1 и c)
уменьшение базового Р-фактора Рв-ис при проектировании выполняется в соответствии с таблицей Е.
2
. Рис
вычисляют сложением значения Рдис со всеми значениями оценок по таблице Е.1 и далее вычитанием
всех значений оценок по таблице Е.2. Результирующее значение р ^ не должно превышать 25 %.
П р и м е ч а н и я
1 Р-фактор. названный рис, будет использоваться при оценке достигаемой полноты безопасности Э/Э/ПЭ
системы, связанной с безопасностью, согласно 7.4.5.1 и применяться для ИС вместо P-фактора, определенного,
например, согласно приложению D МЭК 61508-6.
2 Для того чтобы обосновать, что выбранный P-фактор консервативен, необходимо для используемой ме
тодологии проектирования ИС провести анализ доступных данных по отказам. Необходимо использовать только
проверенные временем процессы разработки и реализации ИС.
66