ГОСТ IEC 62321-3-1—2016
Т аб лица В.З — Результаты РФ-анализа на участках 1 и 2, показанных на рисунке В.7
УчастокSi, %
Си, %Zn, %
Sn, %Pb, %Ti, %Fe, %
15,2
18,643
6,2535,98——
26,5
1,73,9
—82,93,91,2
П р и м е ч а н и е — По методу СЭМ-ЭДРФ. Этот метод упомянут здесь только для полноты и с целью об
ратить внимание на существование этого инструмента. СЭМ-ЭДРФ использует характерные рентгеновские лучи,
генерируемые электронным лучом в электронном микроскопе. Поскольку электроны имеют очень малую глубину
проникания в твердое вещество, СЭМ-ЭДРФ обычно является в лучшем случае качественным инструментом. Этот
метод анализирует только материал на самой поверхности пробы. Основным преимуществом СЭМ-ЭДРФ являет ся
то, что она может использоваться для скрининга очень малых (микронных размеров) проб и определения при
сутствия веществ в очень малых объемах. На рисунке В.8 показано поперечное сечение шарика припоя из сплава
SAC (олово-серебро-медь, Sn-Ag-Cu), загрязненного свинцовым припоем. РЬ группируется в малых интерметалли
ческих доменах в объеме оловянного сплава. СЭМ-ЭДРФ — очень сложный метод, который может использоваться
только высококвалифицированным и опытным персоналом, обычно учеными — специалистами по РФ.
WD 1 81 7 - M A R - 0
Рисунок В.8 — СЭМ-ЭДРФ снимок припоя, не содержащего свинца,
с небольшими включениями РЬ (размер = 30 мкм)
30