ГОСТ IEC 62321-3-1—2016
2 Нормативные ссылки
В настоящем стандарте использованы нормативные ссылки на следующие стандарты [для дати
рованных ссылок применяют только указанное издание ссылочного стандарта, для недатированных —
последнее издание (включая все изменения)]:
IEC 62321-1, Determination of certain substances in electrotechnical products — Part 1: Introduction
and overview (Определение регламентированных веществ в электротехнических изделиях. Часть 1.
Введение и обзор)
IEC 62321-2, Determination of levels of certain substances in electrotechnical products — Part 2:
Disassembly, disjointment and mechanical sample preparation (Определение регламентированных ве
ществ в электротехнических изделиях. Часть 2. Разборка, отсоединение и механическая подготовка
образца)
IEC/ISO Guide 98-1, Uncertainty of measurement — Part 1: Introduction to the expression of uncertainty
in measurement (Неопределенность измерения. Часть 1. Руководство по выражению неопределенности
измерения)
3 Термины, определения и сокращения
В настоящем стандарте применены термины по IEC 62321-1 и IEC 62321-2.
4 Принцип работы метода
4.1 Общая информация
Целью создания «скрининга» была необходимость уменьшения количества испытаний. Скрининг
является предшественником любого другого аналитического испытания, и его главная цель — быстро
определить, содержит ли исследуемая часть или деталь изделия:
- регламентированное вещество в концентрации значительно выше, чем его значение или значе
ние, выбранное в качестве критерия, и, следовательно, может быть признано неприемлемым:
- регламентированное вещество в концентрации значительно ниже, чем его значение или значе
ние, выбранное в качестве критерия, и, следовательно, может считаться приемлемым;
- регламентированное вещество в концентрации, близкой к значению или значениям, выбранным
в качестве критерия, так чтобы учитывались все возможные ошибки измерений и критерии безопасно
сти, но окончательное решение может быть принято исходя из приемлемого отсутствия или отсутствия
регламентированного вещества, и, следовательно, могут потребоваться дальнейшие действия, в том
числе дальнейший анализ с использованием процедуры проверки испытаний.
Данный метод контроля специально разработан для скрининга Pb, Hg, Cd, Сг, Вг в однородных ма
териалах, которые применяются в большинстве электротехнических изделий. В обычных условиях РФА
предоставляет информацию об общем количестве каждого элемента в образце, но не идентифицирует
соединения или валентное состояние элементов. Поэтому особое внимание уделяется контролю на
предмет хрома и брома, где результат покажет только общее содержание присутствующего хрома и
брома. Присутствие Cr(VI) или бромированных огнестойких ингибиторов РВВ или PBDE должно прове
ряться с помощью другого метода контроля. Если данный метод контроля применяется к электронным
устройствам в «полученном» состоянии, которые по характеру своей конструкции не являются одно
родными, особое внимание необходимо обратить на интерпретацию результатов. Аналогичным обра
зом определенные затруднения может вызвать анализ Сг в химических покрытиях из-за присутствия Сг
в материале подложки и/или потому, что очень тонкие слои (несколько сотен нм) химического покрытия
имеют недостаточную чувствительность по отношению к Сг.
Скрининг может осуществляться с помощью одного из двух следующих способов:
- неразрушающим способом, т. е. прямым анализом образца в «полученном» состоянии;
- разрушающим способом, т. е. посредством применения одного или нескольких этапов механи
ческой или химической подготовки образца перед проведением анализа.
В последнем случае пользователь должен применить процедуру подготовки образца, описание
которой приводится в IEC 62321-2. С помощью данного метода контроля пользователь сумеет выбрать
наиболее подходящий способ получения образца.
3