ГОСТ IEC 62321-3-1—2016
Приложение А
(справочное)
Практическое применение скрининга методом рентгенофлуоресцентного анализа (РФА)
и представление результатов
А.1 Вводное замечание
В данном приложении приводится общая информация, которая призвана помочь в овладении практически
ми навыками использования метода, указанного выше. К приборам некоторых изготовителей может прилагаться
описание стандартной рабочей процедуры (SOP). Соблюдение данных рекомендаций поможет оператору достичь
оптимального качества аналитических результатов.
А.2 Матричные и интерференционные эффекты
В качестве общего руководства следует отметить, что ограничения поправок на спектральную интерферен
цию и матричные вариации у разных материалов могут в значительной степени влиять на чувствительность, пре
дел ограничения или точность каждого аналита. Следующий список охватывает наиболее общие факторы:
a) На интенсивность характеристического излучения элемента в образце негативное влияние оказывает
процесс рассеяния возбуждающего излучения, который усиливает спектральный фон. Кроме того, присутствуют
еще два основных эффекта:
1
) поглощение возбуждающего или флуоресцентного излучения аналитом и другими элементами (матри
цей) в образце:
2
) вторичное возбуждение (усиление) аналита другими элементами в образце:
- Полимеры: в полимерных образцах влияние матрицы на интенсивность характеристического рентгенов
ского излучения аналита происходит из:
- рассеяния (главным образом некогерентного) первичного излучения, которое в большой степени усили
вает спектральный фон;
- поглощения флуоресцентного излучения главным образом хлором (CI) в поливинилхлориде (PVC) та
кими элементами, как Са, Ti, Zn, Sn, а также Вг и SB, источником происхождения которых являются замедлители
горения;
- вторичного возбуждения такими элементами, как Sb, Sn и Вг;
- некоторые ВДРФ-спектрометры высокой мощности (>500 Вт) могут привести к изменению поверхности
полимерного образца, открытого воздействию рентгеновской трубки на протяжении длительного периода времени. В
таких случаях должен использоваться новый приготовленный образец.
- Металлы: в металлических образцах рассеяние первичного излучения присутствует, но не имеет большого
значения. Матричный эффект вызывается главным образом поглощением и вторичным возбуждением, значения
которых оказываются разными для разных матриц металлов. Следующий список включает наиболее типичные
элементы в различных матрицах:
- Fe-сплавы: Fe, Cr, Ni, Nb, Mo, W;
- Al-сплавы: Al, Mg, Si, Cu, Zn;
- Cu-сплавы: Си, Zn, Sn, Pb, Mn, Ni, Co;
- мягкие припои: Pb, Cu, Zn, Sn, Sb, Bi, Ag;
- Zn-сплавы: Zn, Al;
- драгоценные сплавы: Rh, Pd, Ag, Ir, Pt, Au, Cu, Zn;
- другие металлы, такие какД Mg.
- Электронные компоненты: все эффекты, указанные для полимеров и металлов.
b
) Кроме того, интенсивность характеристического излучения элемента в образце может зависеть от меша
ющих линий других элементов в образце. Для целевых элементов они могут, как правило, быть следующие:
- Cd: помехи могут возникать от Вг, Pb, Sn, Ag и Sb;
- Pb: помехи могут возникать от Вг, As, Bi;
- Hg: помехи могут возникать от Вг, Pb, Bi, Au и от Са и Fe, если образец содержит Са и Fe в высоких кон
центрациях;
- Сг: помехи могут возникать от CI;
- Вг: помехи могут возникать от Fe, Pb и Hg. Реже помехи могут возникнуть от AI, если для анализа Вг вы
брана линия BrLa.
c) Влияние матричных эффектов на предел обнаружения (ПО).
17