Хорошие продукты и сервисы
Наш Поиск (введите запрос без опечаток)
Наш Поиск по гостам (введите запрос без опечаток)
Поиск
Поиск
Бизнес гороскоп на текущую неделю c 29.12.2025 по 04.01.2026
Открыть шифр замка из трёх цифр с ограничениями

ГОСТ Р ИСО/ТО 11146-3-2008; Страница 16

или поделиться

Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы ГОСТ Р ЕН 13463-2-2009 Оборудование неэлектрическое, предназначенное для применения в потенциально взрывоопасных средах. Часть 2. Защита оболочкой с ограниченным пропуском газов «fr» Non-electrical equipment for use in potentially explosive atmospheres. Part 2. Protection by flow restricting enclosure «fr» (Настоящий стандарт устанавливает требования к конструкции и испытаниям оболочек с ограниченным пропуском газов для неэлектрического оборудования, предназначенного для применения в потенциально взрывоопасных средах, в условиях, когда в редких случаях среда снаружи оболочки становится взрывоопасной и сохраняется очень непродолжительное время. Настоящий стандарт применяется совместно с ЕН 13463-1, полностью распространяющегося на оборудование, конструкция которого выполнена в соответствии с настоящим стандартом. Оборудование, соответствующее требованиям настоящего стандарта, соответствует требованиям к оборудованию группы II, уровня Gc. Не допускается применять сочетание вида защиты от воспламенения, описанного в настоящем стандарте, с каким либо другим видом взрывозащиты с целью производства оборудования любого уровня, кроме уровня Gc) ГОСТ Р 53242-2008 Кожа. Метод определения рН Leather. Chemical tests. Determination of pH (Настоящий стандарт распространяется на кожу всех видов и устанавливает метод определения значения рН и значения разности рН водной вытяжки) ГОСТ Р ЕН 14107-2009 Производные жиров и масел. Метиловые эфиры жирных кислот (fame). Определение содержания фосфора методом эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой (ICP) Fat and oil derivatives. Fatty acid methylesters (FAME). Determination of phosphorus content by inductively coupled plasma (ICP) emission spectrometry (Настоящий стандарт устанавливает метод эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой (ICP) определения содержания фосфора от 4 до 20 мг/кг в метиловых эфирах жирных кислот (FAME). Целью настоящего стандарта является оценка качества FAME путем определения содержания фосфорсодержащих побочных продуктов переэтерификации, присутствие которых может влиять на поведение топлив. Предупреждение – Применение настоящего стандарта связано с использованием в процессе испытания опасных материалов, операций и оборудования. В настоящем стандарте не предусмотрено рассмотрение всех вопросов обеспечения безопасности. Пользователь стандарта несет ответственность за установление соответствующих правил техники безопасности и охраны труда, а также определение пригодности нормативных ограничений до применения настоящего стандарта)
Страница 16
Страница 1 Untitled document
ГОСТ Р ИСО/ТО 11146-32008
ра чувствительной площадки приемника излучения, необходимо выполнение дополнительных про
цедур, описанных в 3.4.
При надлежащей корректировке путем вычитания фонового излучения должны существовать
отрицательные шумовые составляющие в корректируемом распределении плотности мощности. Их
необходимо включать в последующие оценки для компенсации положительных шумовых составля
ющих.
3.2Грубая корректировка путем вычитания распределения фона («картированного» рас
пределения фонового излучения)
Перед постановкой основного эксперимента по измерению «карты» распределения плотности
мощности («карты сигналов») необходимо зарегистрировать «темновое изображение» («карту фона»),
представляющее собой распределение плотности фонового излучения при перекрытом пучке непре
рывного лазера или выключенной схеме задержки (запуска) импульсного лазера.
Усредненная «карта фона» является усредненным результатом, по крайней мере, не менее 10 из
мерений (л > 10) распределения плотности фонового излучения:
£
а
(
х
.У) = -Х£8<*-П-(55)
Л1-1
После корректировки с использованием формулы (55) истинное распределение плотности мощ
ности («карта сигналов») описывают выражением
Е(х, у) = Emoai(x, у) - Ев(х,у).(56)
При попадании на приемник излучения флуктуирующих во времени нескорректированных оста
точных излучений фона, вызывающих искажения результатов измерений, необходимо выполнить не
посредственно следующие друг за другом эксперименты по регистрации «карты фона» и «карты
сигналов». Для импульсныхлазеров или непрерывных лазеров с быстродействующим затвором это мо
жет быть выполнено цикличными включениями приемно-усилительного устройства с выполняемыми в
режиме «on-line» вычитаниями «карты фона» (см. 3.4).
3.3Грубая корректировка путем вычитания усредненного распределения фонового излу
чения
Для приемно-усилительных устройств с неизменным (постоянным) уровнем фонового излучения,
распределенного по чувствительной поверхности приемника, может быть применена корректировка из
меренных распределений путем вычитания усредненного уровня фона.
Усредненный по чувствительной поверхности приемника гомогенный уровень фонового излуче
ния Евопределяют регистрацией и усреднением по площади этой поверхности результатов, по
крайней мере, не менее 10 измерений (л > 10) распределения фона:
______
^Л Я1
£в. ОвМГ =
-----
X ^£s(x*y)n
тп
(57)
где т общее число индивидуальных (х, у) регистрируемых приемником точек.
Вычитание усредненного уровня фона приводит к скорректированному распределению
Е(х, y) = Emoai( x ,y )-E ^ y ).
(58)
Вычитание усредненного уровня фона из «карты сигналов» не всегда позволяет скорректировать
смещение базовой линии от ее нулевого положения. Даже небольшие смещения базовой линии могут
порохщать значительные погрешности оценки параметров, характеризующих измеренное распределе
ние плотности мощности. Поэтому должны быть приняты меры по минимизации погрешностей, порож
даемых смещением базовой линии (см. 3.4).
Процедуры, описанные в 3.2 и3.3. в большинстве случаев позволяют снизить погрешности за счет
смещения базовой линии до уровня менее 0.1 значащей цифры младшего разряда. Для малоразмер
ных пучков ширинами пучка менее 0,25 входной апертуры приемника излучения) необходима допол
нительная, более тонкая процедура корректировки влияния смещения базисной линии, описываемая в
3.4.
Ю