ГОСТ Р 53372—2009
Допускается использование других режимов при условии получения показателей точности, не
уступающих указанным в таблице 3.
Подготовленную пробу (таблетку или слиток) помещают на аналитический столик и подверга
ют воздействию искрового разряда в пяти местах. Контр-электродом служит вольфрамовый стер
жень.
Длины волн аналитических линий и фона приведены в таблице 9.
Т а б л и ц а 9 — Длины волн аналитических линий и фона
В нанометрах
Определяемый
элемент
Длина волны
аналитической
линии
Фон на длине
ПО
Л
НЫ
Определяемый
элемент
Длина волны
аналитической
линии
Фон иа длине
оолиы
Алюминий
396.15
310.50
Никель
361.93
310.50
Висмут
405.78
310.50
Олово
175.79
310.50
Железо
259.94
310.50
Палладий
340.45
310.50
Индий
410.18
310.50
Платина’
531.89
310.50
Иридий
351.36
310.50
Родий
343.49
310.50
Кадмий
228.80
200.86
Свинец
405.78
310.50
Кальций
422.67
310.50
Селен
196.09
200.86
Кобальт
345.35
310.50
Серебро
338.29
310,50
Кремний
288.16
310.50
Сурьма”
206.84
200.86
Магний
285.21
310.50
Теллур
214.27
310.50
Марганец
403.45
310.50
Титан
498.17
310.50
Медь
324.75
310.50
Хром
425.43
310.50
Мышьяк
234.98
200.86
Цинк
213.86
200,86
* Во втором порядке решетки.
•* Сурьма 519.62 нм во втором порядке решетки.
Допускается использование других линий при условии получения показателей точности, не усту
пающих указанным в таблице 3.
6.3.4 Обработка результатов анализа
За результат анализа принимают среднеарифметическое значение пяти (десяти) результатов па
раллельных определений при условии выполнения требований раздела 4.
6.4 Метод атомно-эмиссионного анализа с индуктивно связанной плазмой
Метод основан на возбуждении атомов предварительно переведенной в раствор пробы в индук
тивно связанной плазме и измерении интенсивности аналитической спектральной линии определяемо го
элемента.
При распылении раствора анализируемой пробы в плазму связь интенсивности линии с массовой
долей элемента в растворе устанавливают с помощью градуировочной характеристики.
Метод позволяет определять массовые доли примесей вдиапазонах, приведенных в таблице 2. с
показателями точности метода анализа, приведенными в таблице 4.
6.4.1 Средства измерений, вспомогательные устройства, материалы, реактивы и растворы
Спектрометр атомно-эмиссионный с индуктивно связанной плазмой, с обратной линейной диспер
сией не хуже 0,03 нм/мм и фотоэлектрической регистрацией интенсивности излучения. Спектрометр
должен обеспечивать учет фона рядом с используемыми аналитическими линиями.
17