ГОСТ ISO/TS 80004-6-2016
микроскопия ближнвпольная сканирующая оптическая
3.5.4
микроскопия конфокальная световая3.5.10
микроскопия локализованных флуоресцентныхмолекул3.5.16
микроскопия медленных электронов3.5.8
микроскопия полного внутреннего отражения флуоресцентная3.5.14
микроскопия растровая ионная3.5.9
микроскопия сверхвысокого разрешения3.5.15
микроскопия сканирующая зондовая3.5.1
микроскопия сканирующая силовая3.5.2
микроскопия сканирующая туннельная3.5.3
микроскопия флуоресцентная3.5.13
микроскопия электронная просвечивающая3.5.6
микроскопия электронная растровая3.5.5
микроскопия электронная сканирующая
3.5.5
микроскопия электронная растровая просвечивающая3.5.7
микроскопия эллипсометрическая с усилениемконтраста изображения3.5.11
ММЭ3.5.8
МНР3.2.2
МПМ5.1.1
МРР3.2.4
МСВИ4.23
нановолокно2.6
нанодиапазон2.1
нанообъект2.2
нанопластина2.4
наностержень2.5
нанотрубка2.7
наночастица2.3
оже-спектроскопия электронная4.16
оже-электрон4.15
осаждение частиц в жидкости центробежное3.4.2
плоскость сдвига
5.3.3
плоскость скольжения5.3.3
плотность электрического заряда поверхностная5.3.5
площадь поверхности удельная, вычисляемая по массе3.6.1
площадь поверхности удельная, вычисляемая по объему3.6.2
подвижность электрофоретическая5.3.2
потенциал электрокинетический5.3.4
ПРЭМ3.5.7
ПФП3.4.1
ПЭМ3.5.6
радиус инерции3.2.1
размер частицы3.1.1
распределение частиц по размерам3.1.2
20