ГОСТ ISO/TS 80004-6-2016
П ри м ечания
1 ММЭ обычно применяют для получения информации об объектах, имеющих ровные чистые поверхности.
2 В ММЭ первичные электроны энергией от 1 до 100 эВ попадают на исследуемый объект, а отраженные элек
троны формируют увеличенное изображение поверхности этого объекта.
scanning ion
microscopy
3.5.9 растровая ионная микроскопия: Метод исследования объекта с помощью
микроскопа, формирующего изображение путем сканирования поверхности объ-
екта сфокусированным ионным пучком диаметром от 0.1 до 1 нм.
П р и м е ч а н и е — В качестве источника ионов используют гелий, неон и аргон.
3.5.10
confocal optical
microscopy
конф окальная световая микроскопия: Метод исследования объекта с помощью
светового микроскопа, имеющего диафрагму с малым отверстием, расположен-
ную перед фокальной плоскостью и позволяющую регистрировать только те све
товые лучи, которые исходят из анализируемой точки объекта, блокируя свет от
остальных точек.
П ри м ечания
1 Полное изображение исследуемого объекта в конфокальном световом микроскопе получают путем последо
вательного сканирования точек объекта. Формирование изображения происходит благодаря свойству инерци
онности зрения при быстром сканировании или посредством использования фотоприемников и электронных
запоминающих устройств.
2 Метод конфокальный световой микроскопии позволяет получать изображение объекта с улучшенными контра
стом и пространственным разрешением за счет блокирования внефокусных лучей.
[ISO 10934-2:2007, статья 2.11. определение термина изменено]
ния; ЭМУК: Метод исследования объекта с помощью светового микроскопа с ши
рокоугольной оптической системой, формирующего изображение путем усиления
контраста изображения объекта скрещенными поляризаторами, позволяющими
фиксировать отраженный от объекта свет и блокировать отраженный свет от под
ложки или предметного стекла.
3.5.11 эллипсометрическая микроскопия с усилением контраста изображе surface
enhanced
ellipsometric
contrast
microscopy;
SEEC
microscopy
П р и м е ч а н и е — В микроскопе применяют специальные ангиогражающие подложки, усиливающие контраст
изображения и улучшающие разрешающую способность микроскопа в 100 раз.
3.5.12
флуоресценция: Явление поглощения излучения объектом с последующим вы-fluorescence
делением поглощенной энергии в виде излучения с большей длиной волны.
[ISO 18115-2:2010. статья 5.52]
3.5.13 ф луоресцентная микроскопия: Метод исследования объекта с помощьюfluorescence
светового микроскопа, формирующего изображение объекта путем регистрации microscopy
испускаемой им флуоресценции (3.5.12).
П ри м ечания
1 В данном методе применяют микроскоп, в котором для возбуждения флуоресценции объекта предусмотрен
источник света, а длина волны испускаемой объектом флуоресценции всегда больше длины волны света воз
буждения. Для разделения света возбуждения и испускаемой объектом флуоресценции в микроскопе предусмо
трены специальные фильтры.
2 К методам флуоресцентной микроскопии относят эпифлуоресцентную микроскопию, конфокальную микро
скопию. флуоресцентную микроскопию полного внутреннего отражения (ФМПВО) (3.5.14) и микроскопию сверх
высокого разрешения (3.5.15).
3 В данном методе для исследования объектов применяют флуоресцирующие красители. Для объектов, демон
стрирующих при облучении автофлуоресценцию. красители не требуются.
10